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1,1,1,3,3,3-hexafluoro-2-{3-[2,2,2-trifluoro-1-hydroxy-1-(trifluoromethyl)ethyl]cyclohexyl}propan-2-ol | 122085-42-1

中文名称
——
中文别名
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英文名称
1,1,1,3,3,3-hexafluoro-2-{3-[2,2,2-trifluoro-1-hydroxy-1-(trifluoromethyl)ethyl]cyclohexyl}propan-2-ol
英文别名
1,1,1,3,3,3-Hexafluoro-2-[3-(1,1,1,3,3,3-hexafluoro-2-hydroxypropan-2-yl)cyclohexyl]propan-2-ol
1,1,1,3,3,3-hexafluoro-2-{3-[2,2,2-trifluoro-1-hydroxy-1-(trifluoromethyl)ethyl]cyclohexyl}propan-2-ol化学式
CAS
122085-42-1
化学式
C12H12F12O2
mdl
——
分子量
416.207
InChiKey
HGQAFFIDBHENFY-UHFFFAOYSA-N
BEILSTEIN
——
EINECS
——
  • 物化性质
  • 计算性质
  • ADMET
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  • SDS
  • 制备方法与用途
  • 上下游信息
  • 反应信息
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计算性质

  • 辛醇/水分配系数(LogP):
    5
  • 重原子数:
    26
  • 可旋转键数:
    2
  • 环数:
    1.0
  • sp3杂化的碳原子比例:
    1.0
  • 拓扑面积:
    40.5
  • 氢给体数:
    2
  • 氢受体数:
    14

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    中文名称 英文名称 CAS号 化学式 分子量

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文献信息

  • NOVEL PHOTOACID GENERATOR, RESIST COMPOSITION, AND PATTERNING PROCESS
    申请人:Ohsawa Youichi
    公开号:US20090246694A1
    公开(公告)日:2009-10-01
    Photoacid generators generate sulfonic acids of formula ( 1 a) upon exposure to high-energy radiation. ROC(═O)R 1 —COOCH 2 CF 2 SO 3 − H + (1a) RO is OH or C 1 -C 20 organoxy, R 1 is a divalent C 1 -C 20 aliphatic group or forms a cyclic structure with RO. The photoacid generators are compatible with resins and can control acid diffusion and are thus suited for use in chemically amplified resist compositions.
    光酸发生剂在高能辐射作用下生成式(1a)的磺酸。 ROC(═O)R1—COOCH2CF2SO3−H+(1a) RO为OH或C1-C20有机氧基,R1为二价的C1-C20脂肪族基团或与RO形成环状结构。这些光酸发生剂与树脂相容,可以控制酸的扩散,因此适用于化学增感抗蚀组合物的使用。
  • NOVEL PHOTOACID GENERATOR, RESIST COMPOSITION, AND PATTERNING PROCESS
    申请人:OHASHI Masaki
    公开号:US20090061358A1
    公开(公告)日:2009-03-05
    Photoacid generators generate sulfonic acids of formula (1a) or (1c) upon exposure to high-energy radiation. R 1 —COOCH(CF 3 )CF 2 SO 3 + H + (1a) R 1 —O—COOCH(CF 3 )CF 2 SO 3 − H + (1c) R 1 is a C 20 -C 50 hydrocarbon group having a steroid structure. The photoacid generators are compatible with resins and can control acid diffusion and are thus suited for use in chemically amplified resist compositions.
    光酸发生剂在高能辐射作用下生成式(1a)或(1c)的磺酸。R1—COOCH(CF3)CF2SO3+H+(1a)R1—O—COOCH( )CF2SO3−H+(1c)R1是具有类固醇结构的C20-C50烃基。这些光酸发生剂与树脂相容,可以控制酸的扩散,因此适用于化学增感抗蚀组合物的使用。
  • Novel photoacid generators, resist compositions, and patterning process
    申请人:Ohsawa Youichi
    公开号:US20080085469A1
    公开(公告)日:2008-04-10
    Photoacid generators generate sulfonic acids of formula (1a) upon exposure to high-energy radiation. RC(═O)R 1 —COOCH(CF 3 )CF 2 SO 3 − H + (1a) R is hydroxyl, alkyl, aryl, hetero-aryl, alkoxy, aryloxy or hetero-aryloxy, R 1 is a divalent organic group which may have a heteroatom (O, N or S) containing substituent, or R 1 may form a cyclic structure with R. The photoacid generators are compatible with resins and can control acid diffusion and are thus suited for use in chemically amplified resist compositions.
    光酸发生剂在高能辐射作用下生成式(1a)的磺酸。RC(═O)R1—COOCH(CF3)CF2SO3−H+(1a)中,R为羟基、烷基、芳基、杂芳基、烷氧基、芳氧基或杂芳氧基,R1为可能含有杂原子(O、N或S)取代基的二价有机基团,或R1可与R形成环状结构。这些光酸发生剂与树脂相容,可以控制酸的扩散,因此适用于化学增感抗蚀组合物中的使用。
  • NOVEL SULFONATE SALTS AND DERIVATIVES, PHOTOACID GENERATORS, RESIST COMPOSITIONS, AND PATTERNING PROCESS
    申请人:KOBAYASHI Katsuhiro
    公开号:US20070298352A1
    公开(公告)日:2007-12-27
    Sulfonate salts have the formula: HOCH 2 CH 2 CF 2 CF 2 SO 3 − M + wherein M + is a Li, Na, K, ammonium or tetramethylammonium ion. Onium salts, oxime sulfonates and sulfonyloxyimides derived from these salts are effective photoacid generators in chemically amplified resist compositions.
    磺酸盐的化学式为:HOCH2CH2CF2CF2SO3−M+,其中M+是Li、Na、K、四甲基铵离子。从这些盐中衍生的烷基盐、磺酸盐和磺酰氧亚胺化学增强型抗蚀剂组合物中是有效的光酸发生剂。
  • Novel sulfonate salts and derivatives, photoacid generators, resist compositions, and patterning process
    申请人:Ohsawa Youichi
    公开号:US20080318160A1
    公开(公告)日:2008-12-25
    Sulfonate salts have the formula: CF 3 —CH(OCOR)—CF 2 SO 3 − M + wherein R is C 1 -C 20 alkyl or C 6 -C 14 aryl, and M + is a lithium, sodium, potassium, ammonium or tetramethylammonium ion. Onium salts, oximesulfonates and sulfonyloxyimides and other compounds derived from these sulfonate salts are effective photoacid generators in chemically amplified resist compositions.
    磺酸盐的化学式为:CF3—CH(OCOR)—CF2SO3−M+,其中R为C1-C20烷基或C6-C14芳基,M+为四甲基铵离子。来自这些磺酸盐的离子盐、磺酸盐、磺酰氧基亚胺和其他衍生物化学增强型光刻胶组合物中是有效的光酸发生剂。
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