炸药存在于并有望承受各种恶劣环境,包括电离辐射,但人们对将炸药暴露于电离辐射场的
化学后果知之甚少。这项研究的重点是通过利用一致的分子主链,辐射诱导的各种常见高能官能团的
化学变化。
十二烷被
叠氮化物、硝基、
硝酸酯和
硝胺官能团取代,并用60Co 为了研究官能团如何降解以及对电离辐射的相对稳定性是什么。使用分析技术的组合评估
化学变化,包括:核磁共振 (NMR) 光谱、凝聚相和气相的气相色谱、拉曼光谱和傅里叶变换红外 (FTIR) 光谱。结果表明,对分子的大部分损伤都发生在高能官能团上,并且通常集中在触发键上,也称为分子中最弱的键。发现从最易受辐射损伤到最不易受辐射损伤的总趋势是 D–ONO 2 → D–N 3 → D–NHNO 2 → D–NO 2. 这些结果似乎也符合这些官能团对光解、热解和爆炸性侮辱等事物的相对稳定性。