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N,N′-bis(4,4,5,5,5-pentafluoropent-1-en-3-one)-ethylenediamine | 296276-43-2

中文名称
——
中文别名
——
英文名称
N,N′-bis(4,4,5,5,5-pentafluoropent-1-en-3-one)-ethylenediamine
英文别名
4,4,5,5,5-Pentafluoro-1-[2-[(4,4,5,5,5-pentafluoro-3-oxopent-1-enyl)amino]ethylamino]pent-1-en-3-one
N,N′-bis(4,4,5,5,5-pentafluoropent-1-en-3-one)-ethylenediamine化学式
CAS
296276-43-2
化学式
C12H10F10N2O2
mdl
——
分子量
404.208
InChiKey
IZCCAHUXMJWFCK-UHFFFAOYSA-N
BEILSTEIN
——
EINECS
——
  • 物化性质
  • 计算性质
  • ADMET
  • 安全信息
  • SDS
  • 制备方法与用途
  • 上下游信息
  • 反应信息
  • 文献信息
  • 表征谱图
  • 同类化合物
  • 相关功能分类
  • 相关结构分类

计算性质

  • 辛醇/水分配系数(LogP):
    4.8
  • 重原子数:
    26
  • 可旋转键数:
    9
  • 环数:
    0.0
  • sp3杂化的碳原子比例:
    0.5
  • 拓扑面积:
    58.2
  • 氢给体数:
    2
  • 氢受体数:
    14

上下游信息

  • 上游原料
    中文名称 英文名称 CAS号 化学式 分子量

反应信息

  • 作为反应物:
    描述:
    Ce2(OiPr)8(HOiPr)2N,N′-bis(4,4,5,5,5-pentafluoropent-1-en-3-one)-ethylenediamine 反应 0.5h, 以96%的产率得到
    参考文献:
    名称:
    氟化铈(IV)氨基化物:用于化学气相沉积CeO 2薄膜的替代前体
    摘要:
    四种新型氟化烯胺酮LH 2(R f C(O)C 2 H 2 NH)2 C 2 H 4(R f = CF 3(2a),C 2 F 5(2b),C 3 F的高产率合成7(2c))和(F 3 CC(O)C 2 H 2 NH)2 C 3 H 6(2a')描述为双阴离子配体。在溶液中(通过核磁共振(NMR))以及在固态(通过X射线衍射(XRD))对配体进行表征。通过与[Ce 2(O i Pr)8(HO i Pr)2 ]反应来验证烯胺酮的连接能力,从而得到单体铈(IV)络合物[CeL 2 ](3a – c,3a′)基于配体的四齿螯合。铈烯醇盐通过NMR光谱,质谱和单晶XRD研究进行了全面分析,以验证其单体性质。在环境条件下的高稳定性和高挥发性使其成为气相合成CeO 2的潜在前体。将配合物3a和3b用作热和等离子体增强化学气相沉积中的前体,以获得具有不同表面形态的结晶二氧化铈膜。通过X射线光电子能谱分析了膜的纯度和表面状态,结果表明在CeO
    DOI:
    10.1021/acs.inorgchem.6b00348
  • 作为产物:
    描述:
    1-ethoxy-4,4,5,5,5-pentafluoro-1-penten-3-one乙二胺二氯甲烷 为溶剂, 反应 2.0h, 以87%的产率得到N,N′-bis(4,4,5,5,5-pentafluoropent-1-en-3-one)-ethylenediamine
    参考文献:
    名称:
    氟化铈(IV)氨基化物:用于化学气相沉积CeO 2薄膜的替代前体
    摘要:
    四种新型氟化烯胺酮LH 2(R f C(O)C 2 H 2 NH)2 C 2 H 4(R f = CF 3(2a),C 2 F 5(2b),C 3 F的高产率合成7(2c))和(F 3 CC(O)C 2 H 2 NH)2 C 3 H 6(2a')描述为双阴离子配体。在溶液中(通过核磁共振(NMR))以及在固态(通过X射线衍射(XRD))对配体进行表征。通过与[Ce 2(O i Pr)8(HO i Pr)2 ]反应来验证烯胺酮的连接能力,从而得到单体铈(IV)络合物[CeL 2 ](3a – c,3a′)基于配体的四齿螯合。铈烯醇盐通过NMR光谱,质谱和单晶XRD研究进行了全面分析,以验证其单体性质。在环境条件下的高稳定性和高挥发性使其成为气相合成CeO 2的潜在前体。将配合物3a和3b用作热和等离子体增强化学气相沉积中的前体,以获得具有不同表面形态的结晶二氧化铈膜。通过X射线光电子能谱分析了膜的纯度和表面状态,结果表明在CeO
    DOI:
    10.1021/acs.inorgchem.6b00348
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