本文成功地合成了一种新型的纳米
银印迹聚合物,用于溶出伏安法检测
银离子。傅里叶变换红外光谱(FT-IR),场发射扫描电子显微镜(FE-
SEM)和热重分析(TGA)用来表征制备的离子印迹聚合物(IIP)。电
化学程序基于
银离子在具有纳米级IIP和多壁碳纳米管(MWCNT)的改性碳糊电极(M
CPE)的表面上的积累。优化后,将所得电极具有朝向
银的线性关系(I)的浓度范围为0.5×10 - 9〜2.8×10 - 7 M.检测(LOD)的极限被发现是1.2×10 - 10 M(S / N = 3)。在不同电极上进行9次连续测量的相对标准偏差(R
SD)为2.8%(浓度:50.0 nM)。干扰研究表明,几种常见的
金属离子不会干扰定量
银的测定。最后,由于所提出的修饰电极的高选择性和灵敏度,因此可用于测定环境
水样和经认证的参考物质中的
银。