(S)-2-((S)-2-{(S)-2-[(S)-2-(11-Bromo-undecanoylamino)-4-methyl-pentanoylamino]-4-methyl-pentanoylamino}-4-methyl-pentanoylamino)-pentanedioic acid didodecyl ester | 500722-18-9

• 分子结构分类: 有机化合物 - 有机酸及其衍生物 - 羧酸及其衍生物
• 英文名称: (S)-2-((S)-2-{(S)-2-[(S)-2-(11-Bromo-undecanoylamino)-4-methyl-pentanoylamino]-4-methyl-pentanoylamino}-4-methyl-pentanoylamino)-pentanedioic acid didodecyl ester
• CAS: 500722-18-9
• 化学式: C₅₈H₁₀₉BrN₄O₈
• 分子量: 1070.43
• InChiKey: UKSLXJFKMVIKBS-CFOCFGCLSA-N

计算性质

• 辛醇/水分配系数(LogP)：
  13.68
• 重原子数：
  71.0
• 可旋转键数：
  49.0
• 环数：
  0.0
• sp3杂化的碳原子比例：
  0.9
• 拓扑面积：
  169.0
• 氢给体数：
  4.0
• 氢受体数：
  8.0

反应信息

• 作为反应物：
  描述：

  (S)-2-((S)-2-{(S)-2-[(S)-2-(11-Bromo-undecanoylamino)-4-methyl-pentanoylamino]-4-methyl-pentanoylamino}-4-methyl-pentanoylamino)-pentanedioic acid didodecyl ester 、 三甲胺 生成 [10-((S)-1-{(S)-1-[(S)-1-((S)-1,3-Bis-dodecyloxycarbonyl-propylcarbamoyl)-3-methyl-butylcarbamoyl]-3-methyl-butylcarbamoyl}-3-methyl-butylcarbamoyl)-decyl]-trimethyl-ammonium; bromide
  参考文献：
  名称：

  Cartesian-Structure Analysis in Cast Films by Advanced Infrared Multiple-Angle Incidence Resolution Spectroscopy

  摘要：

  多角入射分辨光谱（MAIRS）已被改进为一种先进的算法，从而可以分析有机薄膜中的笛卡尔结构。红外多角入射分辨光谱技术最初是作为一种全新的光谱技术提出的，用于揭示红外透明基底上薄膜的结构各向异性，它可以从相同的样品中获得面内（IP；X 和 Y）和面外（OP；Z）模式光谱。由于该技术采用了基于光强度信号分解（而非吸光度光谱）的分析概念，因此该算法本身具有很大的进一步发展潜力。在本研究中，对理论上推导出的将光强与入射角相关联的矩阵进行了修改，以进一步将 IP 模式光谱分解为 X 和 Y 分量。因此，可以同时测量 X、Y 和 Z 方向（笛卡尔坐标）的各向异性薄膜红外光谱。利用这种先进的算法，可以轻松分析在锗基底上制备的铸膜的笛卡尔结构变化，并通过光谱分析揭示了随着老化从双轴到单轴薄膜结构的变化。

  DOI：

  10.1021/ac035496s
• 作为产物：
  描述：

  Boc-Leu3-OH 在 氰基磷酸二乙酯 、 氢溴酸 、 溶剂黄146 、 三乙胺 作用下， 生成 (S)-2-((S)-2-{(S)-2-[(S)-2-(11-Bromo-undecanoylamino)-4-methyl-pentanoylamino]-4-methyl-pentanoylamino}-4-methyl-pentanoylamino)-pentanedioic acid didodecyl ester
  参考文献：
  名称：

  Cartesian-Structure Analysis in Cast Films by Advanced Infrared Multiple-Angle Incidence Resolution Spectroscopy

  摘要：

  多角入射分辨光谱（MAIRS）已被改进为一种先进的算法，从而可以分析有机薄膜中的笛卡尔结构。红外多角入射分辨光谱技术最初是作为一种全新的光谱技术提出的，用于揭示红外透明基底上薄膜的结构各向异性，它可以从相同的样品中获得面内（IP；X 和 Y）和面外（OP；Z）模式光谱。由于该技术采用了基于光强度信号分解（而非吸光度光谱）的分析概念，因此该算法本身具有很大的进一步发展潜力。在本研究中，对理论上推导出的将光强与入射角相关联的矩阵进行了修改，以进一步将 IP 模式光谱分解为 X 和 Y 分量。因此，可以同时测量 X、Y 和 Z 方向（笛卡尔坐标）的各向异性薄膜红外光谱。利用这种先进的算法，可以轻松分析在锗基底上制备的铸膜的笛卡尔结构变化，并通过光谱分析揭示了随着老化从双轴到单轴薄膜结构的变化。

  DOI：

  10.1021/ac035496s