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(2E)-3-[4-氯-2-(甲基磺酰基)苯基]丙烯酸 | 849035-82-1

中文名称
(2E)-3-[4-氯-2-(甲基磺酰基)苯基]丙烯酸
中文别名
——
英文名称
(2e)-3-[4-Chloro-2-(methylsulfonyl)phenyl]-acrylic acid
英文别名
(E)-3-(4-chloro-2-methylsulfonylphenyl)prop-2-enoic acid
(2E)-3-[4-氯-2-(甲基磺酰基)苯基]丙烯酸化学式
CAS
849035-82-1
化学式
C10H9ClO4S
mdl
MFCD04037952
分子量
260.69
InChiKey
MIPMROMSCSKIEH-HWKANZROSA-N
BEILSTEIN
——
EINECS
——
  • 物化性质
  • 计算性质
  • ADMET
  • 安全信息
  • SDS
  • 制备方法与用途
  • 上下游信息
  • 反应信息
  • 文献信息
  • 表征谱图
  • 同类化合物
  • 相关功能分类
  • 相关结构分类

物化性质

  • 熔点:
    251~253℃

计算性质

  • 辛醇/水分配系数(LogP):
    1.7
  • 重原子数:
    16
  • 可旋转键数:
    3
  • 环数:
    1.0
  • sp3杂化的碳原子比例:
    0.1
  • 拓扑面积:
    79.8
  • 氢给体数:
    1
  • 氢受体数:
    4

安全信息

  • 海关编码:
    2916399090

文献信息

  • RESIST UNDERLAYER FILM-FORMING COMPOSITION AND METHOD FOR FORMING RESIST PATTERN USING THE SAME
    申请人:NISSAN CHEMICAL INDUSTRIES, LTD.
    公开号:US20170045820A1
    公开(公告)日:2017-02-16
    A composition for forming a resist underlayer film which make possible to form a desired high-adhesion resist pattern. A resist underlayer film-forming composition for lithography containing a polymer having the following structure Formula (1) or (2) at a terminal of a polymer chain, crosslinker, compound promoting crosslinking reaction, and organic solvent. (wherein R 1 is a C 1-6 alkyl group optionally having a substituent, phenyl group, pyridyl group, halogeno group, or hydroxy group, R 2 is a hydrogen atom, a C 1-6 alkyl group, hydroxy group, halogeno group, or ester group of —C(═O)O—X wherein X is a C 1-6 alkyl group optionally having a substituent, R 3 is a hydrogen atom, a C 1-6 alkyl group, hydroxy group, or halogeno group, R 4 is a direct bond or divalent C 1-8 organic group, R 5 is a divalent C 1-8 organic group, A is an aromatic ring or heteroaromatic ring, t is 0 or 1, and u is 1 or 2.)
  • US9910354B2
    申请人:——
    公开号:US9910354B2
    公开(公告)日:2018-03-06
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