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hafnium bis(isopropoxide)-bis(tert-butylacetoacetate) | 754993-50-5

中文名称
——
中文别名
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英文名称
hafnium bis(isopropoxide)-bis(tert-butylacetoacetate)
英文别名
[Hf(O-i-Pr)2(tert-butylacetoacetate)2];[Hf(O-i-Pr)2(tbaoac)2]
hafnium bis(isopropoxide)-bis(tert-butylacetoacetate)化学式
CAS
754993-50-5
化学式
C22H40HfO8
mdl
——
分子量
611.045
InChiKey
GWRAXSAEVYGANU-UHFFFAOYSA-N
BEILSTEIN
——
EINECS
——
  • 物化性质
  • 计算性质
  • ADMET
  • 安全信息
  • SDS
  • 制备方法与用途
  • 上下游信息
  • 反应信息
  • 文献信息
  • 表征谱图
  • 同类化合物
  • 相关功能分类
  • 相关结构分类

计算性质

  • 辛醇/水分配系数(LogP):
    None
  • 重原子数:
    None
  • 可旋转键数:
    None
  • 环数:
    None
  • sp3杂化的碳原子比例:
    None
  • 拓扑面积:
    None
  • 氢给体数:
    None
  • 氢受体数:
    None

反应信息

  • 作为反应物:
    参考文献:
    名称:
    HfO[sub 2] 薄膜用于来自工程醇盐和酰胺基 MOCVD 前体的高 k 栅极氧化物应用
    摘要:
    通过液体注入金属有机化学气相沉积,LI-MOCVD,在 SiO x /Si(100) 衬底上生长厚度在 2 和 20 nm 之间的 HfO 2 薄膜。不同的单核前体([Hf(OPr i ) 2 (tbaoac) 2 ]、[Hf(NEt 2 ) 2 (guanid) 2 ] 和 [Hf(OBu t ) 2 (dmae) 2 ] 与不同的溶剂结合进行了测试. 分析了沉积薄膜的生长速率、表面形貌、晶体结构和晶体密度与沉积温度的关系。研究了沉积后退火对致密化和结晶的影响。结构特性与电性能的相关性讨论了具有 Pt 顶部电极的金属绝缘体半导体电容器,另外还讨论了选定样品的全硅化金属栅叠层。
    DOI:
    10.1149/1.2431324
  • 作为产物:
    描述:
    hafnium isopropoxide乙酰乙酸叔丁酯正己烷异丙醇 为溶剂, 以80%的产率得到hafnium bis(isopropoxide)-bis(tert-butylacetoacetate)
    参考文献:
    名称:
    Mononuclear precursor for MOCVD of HfO2 thin filmsElectronic supplementary information (ESI) available: TG/DTA, and isothermal studies, RBS and AFM data of HfO2 film. See http://www.rsc.org/suppdata/cc/b4/b405015k/
    摘要:
    我们报告了一种新型单核混合氧化烷化合物[Hf(OiPr)2(tbaoac)2]的前驱体特性及其在生产工具 CVD 反应器中用于 HfO2 薄膜 MOCVD 的应用。
    DOI:
    10.1039/b405015k
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