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| 1402933-00-9

中文名称
——
中文别名
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英文名称
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英文别名
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化学式
CAS
1402933-00-9
化学式
C13H15F2O6S*C21H21S
mdl
——
分子量
642.785
InChiKey
LFLYLYJBUFCRQG-UHFFFAOYSA-M
BEILSTEIN
——
EINECS
——
  • 物化性质
  • 计算性质
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  • SDS
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  • 反应信息
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  • 同类化合物
  • 相关功能分类
  • 相关结构分类

计算性质

  • 辛醇/水分配系数(LogP):
    6.77
  • 重原子数:
    44.0
  • 可旋转键数:
    7.0
  • 环数:
    7.0
  • sp3杂化的碳原子比例:
    0.41
  • 拓扑面积:
    100.57
  • 氢给体数:
    0.0
  • 氢受体数:
    6.0

反应信息

  • 作为反应物:
    描述:
    在 sodium tetrahydroborate 、 作用下, 以 乙腈 为溶剂, 反应 2.08h, 生成
    参考文献:
    名称:
    PHOTORESIST COMPOSITION AND METHOD FOR PRODUCING PHOTORESIST PATTERN
    摘要:
    一种包括(A)具有含酸敏感基团结构单元和含内酯环结构单元的树脂,以及(B)由式(I)表示的盐的光刻胶组合物:其中Q1和Q2分别独立表示氟原子或C1-C6全氟烷基基团,n表示0或1,L1表示单键或C1-C10脂肪二基基团,其中亚甲基基团可被氧原子或羰基取代,但当n为0时,L1不是单键,R1表示羟基或被保护基团保护的羟基,Z+表示有机阳离子。
    公开号:
    US20120270153A1
  • 作为产物:
    描述:
    5-(Imidazole-1-carbonyl)adamantan-2-one盐酸 、 lithium aluminium tetrahydride 、 硫酸 作用下, 以 四氢呋喃甲醇氯仿甲苯乙腈 为溶剂, 反应 34.5h, 生成
    参考文献:
    名称:
    PHOTORESIST COMPOSITION AND METHOD FOR PRODUCING PHOTORESIST PATTERN
    摘要:
    一种包括(A)具有含酸敏感基团结构单元和含内酯环结构单元的树脂,以及(B)由式(I)表示的盐的光刻胶组合物:其中Q1和Q2分别独立表示氟原子或C1-C6全氟烷基基团,n表示0或1,L1表示单键或C1-C10脂肪二基基团,其中亚甲基基团可被氧原子或羰基取代,但当n为0时,L1不是单键,R1表示羟基或被保护基团保护的羟基,Z+表示有机阳离子。
    公开号:
    US20120270153A1
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