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| 776282-32-7

中文名称
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中文别名
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英文名称
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英文别名
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化学式
CAS
776282-32-7
化学式
C8H7O
mdl
——
分子量
119.143
InChiKey
AFLDFAJPGSFTHD-UHFFFAOYSA-N
BEILSTEIN
——
EINECS
——
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计算性质

  • 辛醇/水分配系数(LogP):
    1.6
  • 重原子数:
    9
  • 可旋转键数:
    1
  • 环数:
    1.0
  • sp3杂化的碳原子比例:
    0.12
  • 拓扑面积:
    17.1
  • 氢给体数:
    0
  • 氢受体数:
    1

反应信息

  • 作为产物:
    描述:
    参考文献:
    名称:
    快速扫描循环伏安法测定卤代芳香族自由基阴离子的快速裂解反应
    摘要:
    DOI:
    10.1021/j100347a074
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文献信息

  • Intramolecular electron transfer and dehalogenation of anion radicals. 4. Haloacetophenones and related compounds
    作者:D. Behar、P. Neta
    DOI:10.1021/ja00399a024
    日期:1981.5
    Halogen-substituted acetophenones and several other carbonyls and carboxyl derivatives were reduced with e/sub aq//sup -/in irradiated aqueous solutions to produce the anion radicals. In certain cases, reduction by (CH/sub 3/)/sub 2/CO/sup -/ was also used. The anion radicals undergo intramolecular electron transfer and dehalogenation to yield inorganic halide ions. The rates of these reactions varied over
    卤素取代的苯乙酮和其他几种羰基和羧基衍生物在辐照水溶液中用 e/sub aq//sup -/ 还原以产生阴离子自由基。在某些情况下,还使用了 (CH/sub 3/)/sub 2/CO/sup -/ 的还原。阴离子自由基进行分子内电子转移和脱卤,产生无机卤离子。这些反应的速率在很宽的范围内变化 (10/sup 1/-10/sup 7/s/sup -1/) 并且强烈依赖于卤素和其他取代基的性质以及它们在分子中的相对位置. 此处获得的结果与先前对氰基和硝基衍生物的测量一起讨论。发现脱卤的速率取决于环上其他取代基的电子亲和力。哈米特' s 取代基常数与观察到的速率无关。然而,从 ESR 参数导出的阴离子自由基中的自旋密度分布产生了良好的定性相关性。带有卤素的环碳上自旋密度的增加伴随着 CX 键断裂速率的增加。在这种情况下,自旋密度代表负电荷密度,因为阴离子自由基的质子化在自旋密度的微小变化中会导致脱卤速率的急剧下降。3
  • Enemaerke, Rasmus J.; Christensen, Torben B.; Jensen, Henrik, Journal of the Chemical Society. Perkin Transactions 2 (2001), 2001, # 9, p. 1620 - 1630
    作者:Enemaerke, Rasmus J.、Christensen, Torben B.、Jensen, Henrik、Daasbjerg, Kim
    DOI:——
    日期:——
  • Rapid cleavage reactions of haloaromatic radical anions measured with fast-scan cyclic voltammetry
    作者:David O. Wipf、R. Mark Wightman
    DOI:10.1021/j100347a074
    日期:1989.5
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