Cartesian-Structure Analysis in Cast Films by Advanced Infrared Multiple-Angle Incidence Resolution Spectroscopy
摘要:
多角入射分辨光谱(MAIRS)已被改进为一种先进的算法,从而可以分析有机薄膜中的笛卡尔结构。红外多角入射分辨光谱技术最初是作为一种全新的光谱技术提出的,用于揭示红外透明基底上薄膜的结构各向异性,它可以从相同的样品中获得面内(IP;X 和 Y)和面外(OP;Z)模式光谱。由于该技术采用了基于光强度信号分解(而非吸光度光谱)的分析概念,因此该算法本身具有很大的进一步发展潜力。在本研究中,对理论上推导出的将光强与入射角相关联的矩阵进行了修改,以进一步将 IP 模式光谱分解为 X 和 Y 分量。因此,可以同时测量 X、Y 和 Z 方向(笛卡尔坐标)的各向异性薄膜红外光谱。利用这种先进的算法,可以轻松分析在锗基底上制备的铸膜的笛卡尔结构变化,并通过光谱分析揭示了随着老化从双轴到单轴薄膜结构的变化。
Cartesian-Structure Analysis in Cast Films by Advanced Infrared Multiple-Angle Incidence Resolution Spectroscopy
摘要:
多角入射分辨光谱(MAIRS)已被改进为一种先进的算法,从而可以分析有机薄膜中的笛卡尔结构。红外多角入射分辨光谱技术最初是作为一种全新的光谱技术提出的,用于揭示红外透明基底上薄膜的结构各向异性,它可以从相同的样品中获得面内(IP;X 和 Y)和面外(OP;Z)模式光谱。由于该技术采用了基于光强度信号分解(而非吸光度光谱)的分析概念,因此该算法本身具有很大的进一步发展潜力。在本研究中,对理论上推导出的将光强与入射角相关联的矩阵进行了修改,以进一步将 IP 模式光谱分解为 X 和 Y 分量。因此,可以同时测量 X、Y 和 Z 方向(笛卡尔坐标)的各向异性薄膜红外光谱。利用这种先进的算法,可以轻松分析在锗基底上制备的铸膜的笛卡尔结构变化,并通过光谱分析揭示了随着老化从双轴到单轴薄膜结构的变化。