摘要 X 射线光电子能谱 (XPS) 用于研究 Nb 2 SnC 和 Nb 2 SC 化合物的结合能和价带。确定了与 Nb 2 SnC 和 Nb 2 SC 的
化学状态相关的 Nb 3d 5/2 、Sn 3d 5/2 、S 2p 3/2 和 C 1s 核心
水平。Nb 2 SnC 的光谱显示样品表面有 Nb 和 Sn 氧化物,主要是 Nb 2 O 5 和 SnO 2 ,而 Nb 2 SC 只有 Nb 2 O 5 氧化物。在 Ar + 离子蚀刻后,两个样品中氧化物的强度均降低。将 Nb 3d、Sn 3d、S 2p 和 C 1s 核心能级与
金属 Nb、Sn、S 和 C 参考材料进行比较,我们观察到两个样品中 Nb 3d 5/2 的
化学位移为正,C 1s 的
化学位移为负. 这些结果表明电荷转移模型适用于 Nb 2 SnC 和 Nb 2 SC 化合物。最后,