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(4,4,4-trifluoro-3-hydroxy-2-methyl-3-trifluoromethylbutan-2-yloxycarbonyl)methyl methacrylate | 1109285-53-1

中文名称
——
中文别名
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英文名称
(4,4,4-trifluoro-3-hydroxy-2-methyl-3-trifluoromethylbutan-2-yloxycarbonyl)methyl methacrylate
英文别名
[2-Oxo-2-[4,4,4-trifluoro-3-hydroxy-2-methyl-3-(trifluoromethyl)butan-2-yl]oxyethyl] 2-methylprop-2-enoate
(4,4,4-trifluoro-3-hydroxy-2-methyl-3-trifluoromethylbutan-2-yloxycarbonyl)methyl methacrylate化学式
CAS
1109285-53-1
化学式
C12H14F6O5
mdl
——
分子量
352.231
InChiKey
JKLLUWWFWZQQHL-UHFFFAOYSA-N
BEILSTEIN
——
EINECS
——
  • 物化性质
  • 计算性质
  • ADMET
  • 安全信息
  • SDS
  • 制备方法与用途
  • 上下游信息
  • 反应信息
  • 文献信息
  • 表征谱图
  • 同类化合物
  • 相关功能分类
  • 相关结构分类

计算性质

  • 辛醇/水分配系数(LogP):
    3
  • 重原子数:
    23
  • 可旋转键数:
    7
  • 环数:
    0.0
  • sp3杂化的碳原子比例:
    0.67
  • 拓扑面积:
    72.8
  • 氢给体数:
    1
  • 氢受体数:
    11

文献信息

  • FLUORINATED MONOMER, FLUORINATED POLYMER, RESIST COMPOSITION AND PATTERNING PROCESS
    申请人:HASEGAWA Koji
    公开号:US20090035699A1
    公开(公告)日:2009-02-05
    Fluorinated monomers of formula (1) are useful in producing polymers for the formulation of radiation-sensitive resist compositions. R 1 is H or monovalent C 1 -C 20 hydrocarbon group, R 2 is H, F, methyl or trifluoromethyl, R 3 and R 4 are H or a monovalent C 1 -C 8 hydrocarbon group, or R 3 and R 4 may form an aliphatic hydrocarbon ring, and A is a divalent C 1 -C 6 hydrocarbon group.
    式(1)的化单体在制备用于辐射敏感抗蚀组合物的聚合物方面很有用。 R1是H或一价的C1-C20碳氢基团,R2是H,F,甲基或三甲基,R3和R4是H或一价的C1-C8碳氢基团,或R3和R4可以形成脂肪烃环,A是二价的C1-C6碳氢基团。
  • Polymer, resist protective coating material, and patterning process
    申请人:Hatakeyama Jun
    公开号:US20070178407A1
    公开(公告)日:2007-08-02
    A polymer comprising repeat units having formula (1) wherein R 1 and R 2 are hydrogen or C 1 -C 12 alkyl, or R 1 and R 2 may bond together to form a ring, and R 30 is hydrogen or methyl is used to formulate a resist protective coating material. A protective coating formed therefrom on a resist film is water-insoluble, dissolvable in alkali aqueous solution or alkaline developer, and immiscible with the resist film so that the immersion lithography can be conducted in a satisfactory manner. During alkali development, development of the resist film and removal of the protective coating can be simultaneously achieved.
  • US7642034B2
    申请人:——
    公开号:US7642034B2
    公开(公告)日:2010-01-05
  • US7981589B2
    申请人:——
    公开号:US7981589B2
    公开(公告)日:2011-07-19
  • [EN] RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, METHOD FOR FORMING RESIST PATTERN, POLYMER, AND COMPOUND<br/>[FR] COMPOSITION DE RÉSINE SENSIBLE AUX RAYONNEMENTS, PROCÉDÉ DE FORMATION D'UN MOTIF DE RÉSERVE, POLYMÈRE, ET COMPOSÉ<br/>[JA] 感放射線性樹脂組成物、レジストパターン形成方法、重合体及び化合物
    申请人:JSR CORP
    公开号:WO2021111913A1
    公开(公告)日:2021-06-10
    露光光に対する感度が良好であり、高撥水性で欠陥の少ないレジストパターンを形成し得る感放射線性樹脂組成物、レジストパターン形成方法、重合体、及びこれらに用いることができる化合物の提供を目的とする。本発明は、酸解離性基を含む構造単位を有する第1重合体と、下記式(1)で表される構造単位を有する第2重合体と、感放射線性酸発生体とを含有する感放射線性樹脂組成物である。下記式(1)中、Aは、酸素原子又は硫黄原子である。m+nは2又は3であり、mは1又は2であり、nは1又は2である。Xは、単結合又は炭素数1~20の2価の有機基である。R1は、フッ素原子を有する1価の有機基である。
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