by varying the global intensity, frequency scale, and admixture coefficients of the individual conformers. The (GeH(3))(2)(SiH(2))(2) (1) species was then utilized to fabricate Si(0.50)Ge(0.50) semiconductor alloys reflecting exactly the Si/Ge content of the precursor. Device quality layers were grown via gas source MBE directly on Si(100) at unprecedented low temperatures 350-450 degrees C and display
类
丁烷 (GeH(3))(2)(SiH(2))(2) (1)、(GeH(3))(2)SiH(SiH(3)) (2) 和 (2) 的合成GeH(3))(2)(SiH(2)GeH(2)) (3) Si-Ge
氢化物在低温合成富
锗 Si(1-x)Ge(x) 光电合
金中的应用证明了。通过 FTIR、多核 NMR、质谱、卢瑟福背散射和密度泛函理论 (DFT) 模拟研究了这些化合物的组成、振动、结构和热
化学性质。分析表明线性 (GeH(3))(2)(SiH(2))(2) (1) 和 (GeH(3))(2)(SiH(2)GeH(2)) (3)化合物以经典的正常 (n) 和 gauche (g) 构象异构体的混合物形式存在,在 22 摄氏度时似乎不会相互转化。 样品中的构象比例是使用新的拟合程序确定的,它结合了计算出的分子光谱,通过改变个体构象异构体的全局强度、频率尺度和混合系数来重现观察到的分子光谱。然后利用