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Er-tris-2,2,6,6-tetramethyl-3,5-heptanedionate

中文名称
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中文别名
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英文名称
Er-tris-2,2,6,6-tetramethyl-3,5-heptanedionate
英文别名
erbium(2,2,6,6-tetramethyl-3,5-heptanedione)3;Er(TMHD)3;erbium;2,2,6,6-tetramethylheptane-3,5-dione
Er-tris-2,2,6,6-tetramethyl-3,5-heptanedionate化学式
CAS
——
化学式
C33H60ErO6
mdl
——
分子量
720.096
InChiKey
DVVZFKBUKVTGJB-UHFFFAOYSA-N
BEILSTEIN
——
EINECS
——
  • 物化性质
  • 计算性质
  • ADMET
  • 安全信息
  • SDS
  • 制备方法与用途
  • 上下游信息
  • 反应信息
  • 文献信息
  • 表征谱图
  • 同类化合物
  • 相关功能分类
  • 相关结构分类

计算性质

  • 辛醇/水分配系数(LogP):
    7.82
  • 重原子数:
    40
  • 可旋转键数:
    6
  • 环数:
    0.0
  • sp3杂化的碳原子比例:
    0.82
  • 拓扑面积:
    102
  • 氢给体数:
    0
  • 氢受体数:
    6

反应信息

  • 作为反应物:
    描述:
    Er-tris-2,2,6,6-tetramethyl-3,5-heptanedionate臭氧 以 neat (no solvent) 为溶剂, 生成 erbium(III) oxide
    参考文献:
    名称:
    稀土氧化物的原子层沉积:来自β-二酮酸盐和臭氧前体的氧化铒薄膜
    摘要:
    Er(thd) 3 (thd = 2,2,6,6-tetramethyl-3,5-) 通过原子层沉积 (ALD) 在 Si(1 0 0) 和钠钙玻璃基板上生长 Er 2 O 3 薄膜庚二酮)和臭氧前体。研究的温度范围为 200-450°C,其中在 Si(1 0 0) 和钠钙玻璃上分别在 250-375 和 275-350°C 处观察到 Er 2 O 3(ALD 窗口)的恒定增长率区域. 在 ALD 窗口内,沉积在 Si( 1 0 0) 和钠钙玻璃上的 Er 2 O 3 膜的生长速率分别为 0.25 和 0.20 A(周期) -1 。薄膜是多晶、立方 Er 2 O 3 ,当沉积温度升高到 325°C 以上时,它们的优选取向从 (4 0 0) 变为 (2 2 2)。低于 250 °C,薄膜是无定形的。AFM 的表面形态研究表明薄膜非常光滑(rms = 0.3-1.4 nm),当沉积在 ALD 窗口内时。进行飞行时间弹性反冲检测
    DOI:
    10.1016/j.jallcom.2003.11.149
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文献信息

  • PREPARATION AND CHARACTERIZATION OF SOME RARE-EARTH COMPLEXES OF THE PHTHALOCYANINE RADICAL
    作者:Hiroshi Sugimoto、Teruaki Higashi、Masayasu Mori
    DOI:10.1246/cl.1983.1167
    日期:1983.8.5
    5-heptanedionato) complexes of rare-earth elements, M3+(dpm)3 (M = Nd, Sm, Eu, Gd, Tb, Dy, Ho, Er, Tm, Yb, Lu, and Y) with lithium phthalocyanine Li2(Pc2−) in tetrahydrofuran gave new stable phthalocyanine radical complexes [M3+(Pc−·)(dpm)2].
    稀土元素三(2,2,6,6-四甲基-3,5-庚二酮)配合物的反应,M3+(dpm)3 (M = Nd, Sm, Eu, Gd, Tb, Dy, Ho, Er、Tm、Yb、Lu 和 Y) 与四氢呋喃中的锂酞菁 Li2(Pc2-) 生成新的稳定的酞菁自由基复合物 [M3+(Pc-·)(dpm)2]。
  • Atomic layer deposition of rare earth oxides: erbium oxide thin films from β-diketonate and ozone precursors
    作者:Jani Päiväsaari、Matti Putkonen、Timo Sajavaara、Lauri Niinistö
    DOI:10.1016/j.jallcom.2003.11.149
    日期:2004.7
    Er 2 O 3 thin films were grown onto Si(1 0 0) and soda lime glass substrates by atomic layer deposition (ALD) from Er(thd) 3 (thd = 2,2,6,6-tetramethyl-3,5-heptanedione) and ozone precursors. Temperature range studied was 200-450°C where a region of constant growth rate for Er 2 O 3 (ALD window) was observed at 250-375 and 275-350 °C on Si(1 0 0) and soda lime glass, respectively. Within the ALD window
    Er(thd) 3 (thd = 2,2,6,6-tetramethyl-3,5-) 通过原子层沉积 (ALD) 在 Si(1 0 0) 和钠钙玻璃基板上生长 Er 2 O 3 薄膜庚二酮)和臭氧前体。研究的温度范围为 200-450°C,其中在 Si(1 0 0) 和钠钙玻璃上分别在 250-375 和 275-350°C 处观察到 Er 2 O 3(ALD 窗口)的恒定增长率区域. 在 ALD 窗口内,沉积在 Si( 1 0 0) 和钠钙玻璃上的 Er 2 O 3 膜的生长速率分别为 0.25 和 0.20 A(周期) -1 。薄膜是多晶、立方 Er 2 O 3 ,当沉积温度升高到 325°C 以上时,它们的优选取向从 (4 0 0) 变为 (2 2 2)。低于 250 °C,薄膜是无定形的。AFM 的表面形态研究表明薄膜非常光滑(rms = 0.3-1.4 nm),当沉积在 ALD 窗口内时。进行飞行时间弹性反冲检测
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