开发了一种质谱 (MS) 方法来快速分析粗反应混合物。该方法依赖于通过大气压光电离 (AP
PI) 对具有假体
三甲氧基芳烃 (TMOA) 残基的分子进行高效电离。在粗反应混合物中,TMOA 标记底物反应产生的产物将被选择性电离,以提供易于阅读的质谱图。有趣的是,我们注意到 TMOA 标记的分子没有碎裂,并给出了首选的 [M + H] + 离子峰。该AP
PI-MS反应混合物分析方法用于优化杂环合成。通过比较 AP
PI/MS、GC 和 HPLC 分析获得的结果,似乎可以通过积分 MS 峰强度来实现半定量。