申请人:SHIN-ETSU CHEMICAL CO., LTD. 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤(519980708960)
公开号:KR101695054B1
公开(公告)日:2017-01-10
[과제] 본 발명은 고에너지선을 광원으로 한 포토리소그래피에 있어서 해상성, 특히 패턴 형상의 직사각형성이 우수하고, 또한 거칠기가 작은 양호한 패턴을 부여하며, 나아가서는 디펙트가 발현되기 어려운 레지스트 재료에 사용되는 술포늄염 및 이 술포늄염을 함유하는 레지스트 재료 및 그 레지스트 재료를 이용한 패턴 형성 방법을 제공한다. [해결수단] 하기 일반식(1a)로 나타내어지는 술포늄염. (식에서, R 및 R0은 각각 독립적으로 수소 원자, 또는 헤테로 원자로 치환되어 있더라도 좋고, 헤테로 원자가 개재하더라도 좋은 탄소수 1∼30의 직쇄상, 분기상 또는 환상의 1가 탄화수소기를 나타낸다)
NOVEL SULFONATE AND ITS DERIVATIVE, PHOTOSENSITIVE ACID GENERATOR, AND RESIST COMPOSITION AND PATTERNING PROCESS USING THE SAME
申请人:OHASHI Masaki
公开号:US20100209827A1
公开(公告)日:2010-08-19
There is disclosed a sulfonate shown by the following general formula (2).
R
1
—COOC(CF
3
)
2
—CH
2
SO
3
−
M
+
(2)
(In the formula, R
1
represents a linear, a branched, or a cyclic monovalent hydrocarbon group having 1 to 50 carbon atoms optionally containing a hetero atom. M
+
represents a cation.) There can be provided: a novel sulfonate which is effective for a chemically amplified resist composition having a sufficiently high solubility (compatibility) in a resist solvent and a resin, a good storage stability, a PED stability, a further wider depth of focus, a good sensitivity, in particular a high resolution and a good pattern profile form; a photosensitive acid generator; a resist composition using this; a photomask blank, and a patterning process.
Sulfonate and its derivative, photosensitive acid generator, and resist composition and patterning process using the same
申请人:Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.
公开号:US08283104B2
公开(公告)日:2012-10-09
There is disclosed a sulfonate shown by the following general formula (2).
R1—COOC(CF3)2—CH2SO3−M+ (2)
(In the formula, R1 represents a linear, a branched, or a cyclic monovalent hydrocarbon group having 1 to 50 carbon atoms optionally containing a hetero atom. M+ represents a cation.) There can be provided: a novel sulfonate which is effective for a chemically amplified resist composition having a sufficiently high solubility (compatibility) in a resist solvent and a resin, a good storage stability, a PED stability, a further wider depth of focus, a good sensitivity, in particular a high resolution and a good pattern profile form; a photosensitive acid generator; a resist composition using this; a photomask blank, and a patterning process.
PREPARATION OF 2,2-BIS (FLUOROALKYL) OXIRANE AND PREPARATION OF PHOTOACID GENERATOR THEREFROM
申请人:SAGEHASHI Masayoshi
公开号:US20130005997A1
公开(公告)日:2013-01-03
A 2,2-bis(fluoroalkyl)oxirane (A) is prepared by reacting a fluorinated alcohol (1) with a chlorinating, brominating or sulfonylating agent under basic conditions to form an oxirane precursor (2) and subjecting the oxirane precursor to ring closure under basic conditions. R
1
and R
2
are fluoroalkyl groups, R
3
and R
4
are hydrogen or monovalent hydrocarbon groups, X is chlorine, bromine or —OSO
2
R
5
group, and R
5
is alkyl or aryl.
A 2,2-双(氟烷基)环氧乙烷(A)是通过将氟化醇(1)与氯化、溴化或磺酰化试剂在碱性条件下反应形成环氧前体(2),并在碱性条件下使环氧前体发生环闭合反应而制备得到。其中,R1和R2为氟烷基,R3和R4为氢或一价烃基,X为氯、溴或—OSO2R5基团,R5为烷基或芳基。
신규 술폰산염 및 그의 유도체, 광산발생제 및 이것을 이용한 레지스트 재료 및 패턴 형성 방법
申请人:SHIN-ETSU CHEMICAL CO., LTD. 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤(519980708960)
公开号:KR101532103B1
公开(公告)日:2015-06-26
본 발명은 레지스트 용제 및 수지에 대한 용해성(상용성)이 충분히 높고, 보존 안정성이 양호하고, PED 안정성이 있으며, 촛점 심도가 보다 넓고, 감도가 양호하고, 특히 해상성과 패턴 프로파일 형상이 우수한 화학 증폭형 레지스트 재료를 제공하는 화학 증폭형 레지스트 재료용으로서 효과적인 신규 술폰산염과 광산발생제 및 이것을 이용한 레지스트 재료, 포토마스크 블랭크 및 패턴 형성 방법을 제공한다. 본 발명은 하기 화학식 2로 표시되는 술폰산염을 제공한다. <화학식 2> (식 중, R1은 헤테로 원자를 포함할 수도 있는 탄소수 1 내지 50의 직쇄상, 분지상 또는 환상의 1가 탄화수소기를 나타내고, M+는 양이온을 나타낸다.)