各种N-(二烷基
氨基甲
硫酰基)-硝基取代的苯甲酰胺的
铜(II)配合物[二烷基=二正丁基(1a,2a); 己基,甲基(3a); 丁基乙基(4a)]已经合成并通过元素分析,红外光谱和大气压
化学电离质谱(MS-APCI)进行了表征。配合物2a的分子结构通过单晶X射线衍射测定。这些络合物用作沉积的单源前体。
硫化
铜在350°C下通过气溶胶辅助
化学气相沉积(
AA-CVD)制成的薄膜。配合物3a和4a的薄膜的粉末X射线衍射(p-XRD)图谱显示菱形方
铁矿的Cu 9 S 5相的沉积,配合物1a在350°C的条件下沉积的单斜方斜晶石Cu 7 S 4相的球形微晶。配合物2a沉积正交晶状
苯胺铜Cu 7 S 4球形微晶相。膜表面的粗糙度通过原子力显微镜(A
FM)确定。扫描电子显微镜(
SEM)和能量色散X射线分析(EDXA)结果表明,
硫化
铜 在薄膜中,它使它们在结构化表面上成为有用的半导体材料。