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4-叔丁氧基-2,3,5,6-四氟苯乙烯 | 343305-41-9

中文名称
4-叔丁氧基-2,3,5,6-四氟苯乙烯
中文别名
——
英文名称
4-tert-butoxy-2,3,5,6-tetrafluorostyrene
英文别名
4-(tert-Butoxy)-2,3,5,6-tetrafluorostyrene;1-ethenyl-2,3,5,6-tetrafluoro-4-[(2-methylpropan-2-yl)oxy]benzene
4-叔丁氧基-2,3,5,6-四氟苯乙烯化学式
CAS
343305-41-9
化学式
C12H12F4O
mdl
——
分子量
248.22
InChiKey
QRKPOBGCHDVVRQ-UHFFFAOYSA-N
BEILSTEIN
——
EINECS
——
  • 物化性质
  • 计算性质
  • ADMET
  • 安全信息
  • SDS
  • 制备方法与用途
  • 上下游信息
  • 反应信息
  • 文献信息
  • 表征谱图
  • 同类化合物
  • 相关功能分类
  • 相关结构分类

计算性质

  • 辛醇/水分配系数(LogP):
    4.1
  • 重原子数:
    17
  • 可旋转键数:
    3
  • 环数:
    1.0
  • sp3杂化的碳原子比例:
    0.33
  • 拓扑面积:
    9.2
  • 氢给体数:
    0
  • 氢受体数:
    5

安全信息

  • 危险等级:
    IRRITANT
  • 危险品标志:
    Xi
  • 海关编码:
    2909309090

SDS

SDS:0c22f445dfbdff9ad45909ca6d1a5794
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反应信息

  • 作为产物:
    描述:
    chloroethene,zinc 、 4-tert-butoxy-2,3,5,6-tetrafluoro-1-iodobenzene 生成 4-叔丁氧基-2,3,5,6-四氟苯乙烯
    参考文献:
    名称:
    Styrene derivatives
    摘要:
    公式(1)的苯乙烯衍生物是新颖的,其中R1是氢,C1-20烷基,氟取代的C1-20烷基,氯或三氯甲基,R2是苯酚保护基,p,q和r是0≤p<5,0≤q<5,0
    公开号:
    US06369279B1
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文献信息

  • Acid-degradable resin compositions containing ketene-aldehyde copolymer
    申请人:Sudo Atsushi
    公开号:US20050130057A1
    公开(公告)日:2005-06-16
    It is intended to provide compositions to be used in resists and the like for forming fine patterns with a high sensitivity and a high resolution by increasing the difference in the solubilities between exposed parts and unexposed parts. Acid-degradable compositions contain a polymer having a repeating unit represented by the following general formula (I): wherein R 1 and R 2 independently represent hydrogen atom, halogen atom, C 1-20 hydrocarbon group, a heterocyclic group, a cyano group, a nitro group, C(═O)R 4 group, S(O) n R 4 group, P(═O)(R 4 ) 2 group or M(R 4 ) 3 group; R 3 represents C 1-20 hydrocarbon group or a heterocyclic group: R 4 represents C 1-20 hydrocarbonoxy group, C 1-20 hydrocarbon group, C 1-20 hydrocarbonthio group or mono- or di-C 1-20 hydrocarbonamino group; M represents a silicon, germanium, tin or lead atom; and n is 0, 1 or 2 , and an acid or a compound capable of generating an acid in response to an external stimulus.
    本发明旨在提供用于制备高灵敏度和高分辨率细微图案的抗蚀剂等组合物,通过增加曝光部分和未曝光部分之间的溶解度差异。可降解酸性组合物包含具有以下通式(I)所表示的重复单元的聚合物:其中,R1和R2独立地表示氢原子、卤素原子、C1-20碳氢基团、杂环基团、基团、硝基团、C(═O)R4基团、S(O)nR4基团、P(═O)(R4)2基团或M(R4)3基团;R3表示C1-20碳氢基团或杂环基团;R4表示C1-20碳氢氧基团、C1-20碳氢基团、C1-20碳氢基团或单烷基或二烷基基基团;M表示原子;n为0、1或2,以及一种酸或能够响应外部刺激产生酸的化合物。
  • ACID-DEGRADABLE RESIN COMPOSITIONS CONTAINING KETENE-ALDEHYDE COPOLYMER
    申请人:NIPPON SODA CO., LTD.
    公开号:EP1482361A1
    公开(公告)日:2004-12-01
    It is intended to provide compositions to be used in resists and the like for forming fine patterns with a high sensitivity and a high resolution by increasing the difference in the solubilities between exposed parts and unexposed parts. Acid-degradable compositions contain a polymer having a repeating unit represented by the following general formula (I): wherein R1 and R2 independently represent hydrogen atom, halogen atom, C1-20 hydrocarbon group, a heterocyclic group, a cyano group, a nitro group, C(=O)R4 group, S(O)nR4 group, P(=O)(R4)2 group or M(R4)3 group; R3 represents C1-20 hydrocarbon group or a heterocyclic group: R4 represents C1-20 hydrocarbonoxy group, C1-20 hydrocarbon group, C1-20 hydrocarbonthio group or mono- or di- C1-20 hydrocarbonamino group; M represents a silicon, germanium, tin or lead atom; and n is 0, 1 or 2, and an acid or a compound capable of generating an acid in response to an external stimulus.
    本发明旨在提供用于抗蚀剂等的组合物,通过增大暴露部分和未暴露部分之间的溶解度差异,形成具有高灵敏度和高分辨率的精细图案。可酸性降解组合物含有一种聚合物,其重复单元由以下通式 (I) 表示: 其中 R1 和 R2 分别代表氢原子、卤素原子、C1-20 烃基、杂环基、基、硝基、C(=O)R4 基、S(O)nR4 基、P(=O)(R4)2 基或 M(R4)3 基;R3 代表 C1-20 烃基或杂环基:R4代表C1-20烃氧基、C1-20烃基、C1-20烃基或单-或双-C1-20烃基;M代表原子;n为0、1或2。
  • Resin containing ketene-aldehyde copolymer
    申请人:NIPPON SODA CO., LTD.
    公开号:EP1720063B1
    公开(公告)日:2010-04-07
  • PATTERN FORMING PROCESS AND SHRINK AGENT
    申请人:SHIN-ETSU CHEMICAL CO., LTD.
    公开号:US20160202612A1
    公开(公告)日:2016-07-14
    A negative pattern is formed by applying a resist composition onto a substrate, exposing the resist film, and developing the exposed resist film in an organic solvent developer. The process further involves coating the negative pattern with a shrink agent solution of a first polymer comprising recurring units capable of forming carboxyl, hydroxyl or lactone ring and a second polymer comprising recurring units capable of forming amino and fluorinated recurring units in an ester and/or ketone solvent, baking the coating, and removing the excessive shrink agent for thereby shrinking the size of spaces in the pattern.
  • US6369279B1
    申请人:——
    公开号:US6369279B1
    公开(公告)日:2002-04-09
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