CeO 2晶格中的
氟化物掺杂已通过一种简单,可靠,可重现和安全的基于溶液的方法实现。含F的CeO 2保留了
萤石结构,其作用已通过各种分析技术得到了证实,例如粉末X射线衍射,傅立叶变换IR,拉曼,紫外可见漫反射,光致发光(PL)和X射线光电子能谱(XPS),扫描电子显微镜–能量色散X射线(EDX)和透射电子显微镜–EDX分析。通过
化学分析和核心级XPS分析确定了CeO 2晶格中的
氟化物浓度。掺F和不掺CeO 2中Ce 3+的浓度通过XPS分析以及可变温度磁化率测量确定了样品。PL光谱中的特征Ce 3+发射表明F掺杂样品中Ce 3+离子浓度增加,与XPS和磁测量结果一致。F掺杂的CeO 2纳米晶体表现出中等的单分散性,这是通过使用动态光散射实验的粒度测量结果确定的,并且具有106.1 m 2 / g的高表面积。掺杂
氟离子后,CeO 2的光学带隙从3.05到2.95 eV变窄。在拉曼光谱中(在1097