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2-(3-adamantan-1-yl-2-hydroxypropoxy)-1,1-difluoroethane sulfonic acid sodium salt | 1392424-61-1

中文名称
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中文别名
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英文名称
2-(3-adamantan-1-yl-2-hydroxypropoxy)-1,1-difluoroethane sulfonic acid sodium salt
英文别名
2-(3-Adamantan-1-yl-2-hydroxypropoxy)-1,1-difluoroethanesulfonic acid sodium salt;sodium;2-[3-(1-adamantyl)-2-hydroxypropoxy]-1,1-difluoroethanesulfonate
2-(3-adamantan-1-yl-2-hydroxypropoxy)-1,1-difluoroethane sulfonic acid sodium salt化学式
CAS
1392424-61-1
化学式
C15H23F2O5S*Na
mdl
——
分子量
376.397
InChiKey
DAECFARQCYQPES-UHFFFAOYSA-M
BEILSTEIN
——
EINECS
——
  • 物化性质
  • 计算性质
  • ADMET
  • 安全信息
  • SDS
  • 制备方法与用途
  • 上下游信息
  • 反应信息
  • 文献信息
  • 表征谱图
  • 同类化合物
  • 相关功能分类
  • 相关结构分类

计算性质

  • 辛醇/水分配系数(LogP):
    -0.89
  • 重原子数:
    24
  • 可旋转键数:
    7
  • 环数:
    4.0
  • sp3杂化的碳原子比例:
    1.0
  • 拓扑面积:
    95
  • 氢给体数:
    1
  • 氢受体数:
    7

反应信息

  • 作为反应物:
    描述:
    2-(3-adamantan-1-yl-2-hydroxypropoxy)-1,1-difluoroethane sulfonic acid sodium salt 、 以Thus, 2-(3-adamantan-1-yl-2-hydroxypropoxy)-1,1-difluoroethanesulfonic acid diphenyl fluorophenyl sulfonium salt was obtained的产率得到2-[3-(1-Adamantyl)-2-hydroxypropoxy]-1,1-difluoroethanesulfonic acid;fluoro(triphenyl)-lambda4-sulfane
    参考文献:
    名称:
    Photoacid generator, method for producing the same, and resist composition comprising the same
    摘要:
    本发明提供了一种由以下式子(1)所代表的光酸发生剂、制备该光酸发生剂的方法以及含有该光酸发生剂的抗蚀剂组合物。在式(1)中,Y、X、R1、R2、n1、n2和A+的含义与本发明详细说明中定义的含义相同。该光酸发生剂在ArF液体浸没光刻时可以保持适当的接触角,可以减少液体浸没光刻时发生的缺陷,并且在抗蚀剂溶剂中具有优异的溶解性和与树脂的优异相容性。此外,该光酸发生剂可以通过使用工业上易得的环氧化合物进行高效简单的方法制备。
    公开号:
    US08889901B2
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文献信息

  • PHOTOACID GENERATOR, METHOD FOR PRODUCING THE SAME, AND RESIST COMPOSITION COMPRISING THE SAME
    申请人:OH Jung Hoon
    公开号:US20120203030A1
    公开(公告)日:2012-08-09
    A photoacid generator represented by the following formula (1), a method for producing the photoacid generator, and a resist composition containing the photoacid generator are provided. wherein in the formula (1), Y, X, R 1 , R 2 , n 1 , n 2 and A + have the same meanings as defined in the detailed description of the invention. The photoacid generator can maintain an appropriate contact angle at the time of ArF liquid immersion lithography, can reduce defects occurring during liquid immersion lithography, and has excellent solubility in resist solvents and excellent compatibility with resins. Furthermore, the photoacid generator can be produced by an efficient and simple method using an epoxy compound that is industrially easily available.
    提供以下式子(1)所代表的光酸发生剂,制备该光酸发生剂的方法以及含有该光酸发生剂的抗蚀剂组合物。在式子(1)中,Y、X、R1、R2、n1、n2和A+的含义与发明的详细说明中定义的含义相同。该光酸发生剂可以在ArF液体浸入光刻时保持适当的接触角,可以减少液体浸入光刻时发生的缺陷,并具有优异的溶解度和树脂的优异相容性。此外,该光酸发生剂可以通过使用工业上易得的环氧化合物的高效简单方法制备。
  • US8889901B2
    申请人:——
    公开号:US8889901B2
    公开(公告)日:2014-11-18
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