摩熵化学
数据库官网
小程序
打开微信扫一扫
首页 分子通 化学资讯 化学百科 反应查询 关于我们
请输入关键词

2-(3-Bicyclo[5.2.1]decanyl)-1,1-difluoroethanesulfonic acid

中文名称
——
中文别名
——
英文名称
2-(3-Bicyclo[5.2.1]decanyl)-1,1-difluoroethanesulfonic acid
英文别名
2-(3-bicyclo[5.2.1]decanyl)-1,1-difluoroethanesulfonic acid
2-(3-Bicyclo[5.2.1]decanyl)-1,1-difluoroethanesulfonic acid化学式
CAS
——
化学式
C12H20F2O3S
mdl
——
分子量
282.35
InChiKey
GRXTZVXSTWGHDI-UHFFFAOYSA-N
BEILSTEIN
——
EINECS
——
  • 物化性质
  • 计算性质
  • ADMET
  • 安全信息
  • SDS
  • 制备方法与用途
  • 上下游信息
  • 反应信息
  • 文献信息
  • 表征谱图
  • 同类化合物
  • 相关功能分类
  • 相关结构分类

计算性质

  • 辛醇/水分配系数(LogP):
    4.3
  • 重原子数:
    18
  • 可旋转键数:
    3
  • 环数:
    2.0
  • sp3杂化的碳原子比例:
    1.0
  • 拓扑面积:
    62.8
  • 氢给体数:
    1
  • 氢受体数:
    5

文献信息

  • [EN] METHOD OF FORMING PATTERN AND ACTINIC-RAY- OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION FOR USE IN THE METHOD<br/>[FR] PROCÉDÉ DE FORMATION DE MOTIF ET COMPOSITION DE RÉSINE SENSIBLE À UN RAYONNEMENT OU AUX RAYONS ACTINIQUES POUR UTILISATION DANS LE PROCÉDÉ
    申请人:FUJIFILM CORP
    公开号:WO2014007361A1
    公开(公告)日:2014-01-09
    Provided is a method of forming a pattern, including (a) forming a film comprising an actinic-ray- or radiation-sensitive resin composition comprising a resin (P) containing a repeating unit (P1) with a cyclic carbonic acid ester structure and any of repeating units (P2) of general formula (P2-1) below, and a compound (B) that when exposed to actinic rays or radiation, generates an acid, (b) exposing the film to actinic rays or radiation, and (c) developing the exposed film with a developer comprising an organic solvent to thereby obtain a negative pattern.
查看更多