Tetrakis-(N,N-diaethylaminooxy)-silan | 15235-39-9

• 分子结构分类: 有机化合物 - 有机氧化合物 - 有机含氧阴离子化合物
• 英文名称: Tetrakis-(N,N-diaethylaminooxy)-silan
• 英文别名: Tetrakis-(diaethylamino-oxy)-silan；Tetrakis(diethylamino) silicate
• CAS: 15235-39-9
• 化学式: C₁₆H₄₀N₄O₄Si
• 分子量: 380.603
• InChiKey: LVUCLQLDUHXRNH-UHFFFAOYSA-N

计算性质

• 辛醇/水分配系数(LogP)：
  2.52
• 重原子数：
  25
• 可旋转键数：
  16
• 环数：
  0.0
• sp3杂化的碳原子比例：
  1.0
• 拓扑面积：
  49.9
• 氢给体数：
  0
• 氢受体数：
  8

反应信息

• 作为反应物：
  描述：

  Tetrakis-(N,N-diaethylaminooxy)-silan 生成 白碳黑
  参考文献：
  名称：

  ACKERMAN, FREDERICK

  摘要：

  DOI：
• 作为产物：
  描述：

  二乙基羟胺 在 正丁基锂 、 四氯化硅 作用下， 生成 Tetrakis-(N,N-diaethylaminooxy)-silan
  参考文献：
  名称：

  SiON 单元中的 β-供体键：一种固有结构-决定性质导致 (4 + 4)-在 Tetrakis-(N,N-二甲基羟基酰胺基)硅烷中的配位

  摘要：

  Tetrakis(N,N-二甲基羟基酰胺基)硅烷、Si(ONMe2)4 (1) 和类似的乙基化合物 Si(ONEt2)4 (2) 是通过四氯化硅与 4 当量的相应锂反应制备的N,N-二烷基羟基酰胺。这些化合物已通过元素分析、IR 光谱、核 1H、13C、15N 核磁共振光谱 [包括 1J(29Si15N) 耦合常数的测定]、17O 和 29Si，以及标称和高分辨率质谱进行表征。对 1 的晶体结构测定表明该分子是 (4 + 4) 配位的，具有短的 Si…N 接触 [2.514(3)-2.555(3) A] 和窄的 SiON 角 [平均 109.1°]。为了进行比较，确定了等电子 Si(OCHMe2)4（原位生长晶体）的晶体结构，显示不存在 β-供体相互作用，SiOC 角为 124.7(1)°。

  DOI：

  10.1021/ja9640004

文献信息

• ACKERMAN, FREDERICK
  作者：ACKERMAN, FREDERICK

  DOI：——

  日期：——
• β-Donor Bonds in SiON Units:  An Inherent Structure- Determining Property Leading to (4 + 4)-Coordination in Tetrakis-(<i>N</i>,<i>N</i>-dimethylhydroxylamido)silane
  作者：Norbert W. Mitzel、Alexander J. Blake、David W. H. Rankin

  DOI：10.1021/ja9640004

  日期：1997.5.1

  with short Si···N contacts [2.514(3)−2.555(3) A] and narrow SiON angles [109.1° on average]. For comparison, the crystal structure of the isoelectronic Si(OCHMe2)4 (in situ grown crystal) was determined, showing the absence of β-donor interactions and an SiOC angle of 124.7(1)°. Ab initio calculations have been performed on the model compounds Si(ONH2)4 and H3SiONMe2 as well as the electronegatively substituted

  Tetrakis(N,N-二甲基羟基酰胺基)硅烷、Si(ONMe2)4 (1) 和类似的乙基化合物 Si(ONEt2)4 (2) 是通过四氯化硅与 4 当量的相应锂反应制备的N,N-二烷基羟基酰胺。这些化合物已通过元素分析、IR 光谱、核 1H、13C、15N 核磁共振光谱 [包括 1J(29Si15N) 耦合常数的测定]、17O 和 29Si，以及标称和高分辨率质谱进行表征。对 1 的晶体结构测定表明该分子是 (4 + 4) 配位的，具有短的 Si…N 接触 [2.514(3)-2.555(3) A] 和窄的 SiON 角 [平均 109.1°]。为了进行比较，确定了等电子 Si(OCHMe2)4（原位生长晶体）的晶体结构，显示不存在 β-供体相互作用，SiOC 角为 124.7(1)°。