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triphenylsulfonium 2-hydroxybenzoate | 345580-99-6

中文名称
——
中文别名
——
英文名称
triphenylsulfonium 2-hydroxybenzoate
英文别名
triphenylsulfonium salicylate;2-carboxyphenolate;triphenylsulfanium
triphenylsulfonium 2-hydroxybenzoate化学式
CAS
345580-99-6
化学式
C7H5O3*C18H15S
mdl
——
分子量
400.498
InChiKey
KKLIEUWPBXKNFS-UHFFFAOYSA-M
BEILSTEIN
——
EINECS
——
  • 物化性质
  • 计算性质
  • ADMET
  • 安全信息
  • SDS
  • 制备方法与用途
  • 上下游信息
  • 反应信息
  • 文献信息
  • 表征谱图
  • 同类化合物
  • 相关功能分类
  • 相关结构分类

计算性质

  • 辛醇/水分配系数(LogP):
    5.24
  • 重原子数:
    29
  • 可旋转键数:
    4
  • 环数:
    4.0
  • sp3杂化的碳原子比例:
    0.0
  • 拓扑面积:
    61.4
  • 氢给体数:
    1
  • 氢受体数:
    3

反应信息

  • 作为反应物:
    描述:
    triphenylsulfonium 2-hydroxybenzoate乙酸酐吡啶 作用下, 以 乙腈 为溶剂, 反应 3.5h, 生成
    参考文献:
    名称:
    カルボン酸塩、レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法
    摘要:
    这是一段关于制造具有良好光罩误差因子(MEF)的光刻胶图案的碳酸盐及其所含的光刻胶组合物的描述。【解决方案】包括式(I)所示的碳酸盐及其所含的光刻胶组合物。【式中,X1代表*−CO−O−、*−O−CO−等;L1表示单键或脂环基,其中的−CH2−可以被替换为−O−或−CO−;R1可以是烷基或取代基的脂环烃基,其中的−CH2−可以被替换为−O−或−CO−等;R2为氟原子、氟化烷基等;m2为0至4的整数;Z1+表示有机阳离子。】【选择图】无
    公开号:
    JP2020152721A
  • 作为产物:
    描述:
    triphenylsulfonium hydrogencarbonate水杨酸二氯甲烷 为溶剂, 以41.6 g的产率得到triphenylsulfonium 2-hydroxybenzoate
    参考文献:
    名称:
    US2023/123203
    摘要:
    公开号:
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文献信息

  • RESIST COMPOSITION, METHOD FOR FORMING RESIST PATTERN, POLYPHENOLIC COMPOUND FOR USE IN THE COMPOSITION, AND ALCOHOLIC COMPOUND THAT CAN BE DERIVED THEREFROM
    申请人:Mitsubishi Gas Chemical Company, Inc.
    公开号:US20160145231A1
    公开(公告)日:2016-05-26
    A resist composition containing a compound represented by the general formula (1) or (2), a method for forming a resist pattern using the composition, a polyphenolic compound for use in the composition, and an alcoholic compound that can be derived therefrom are described.
    描述了一种包含由通式(1)或(2)表示的化合物的光刻胶组合物,使用该组合物形成光刻胶图案的方法,用于该组合物的多化合物,以及可以由其衍生的醇化合物。
  • RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, METHOD FOR FORMING RESIST PATTERN, POLYMER AND POLYMERIZABLE COMPOUND
    申请人:ASANO Yuusuke
    公开号:US20120237875A1
    公开(公告)日:2012-09-20
    A radiation-sensitive resin composition includes a first polymer including an acid-labile group, an acid generator to generate an acid upon exposure to radiation, and a second polymer including a fluorine atom and a functional group shown by a general formula (x). The second polymer has a fluorine atom content higher than a fluorine atom content of the first polymer. R 1 represents an alkali-labile group. A represents an oxygen atom, —NR′—, —CO—O— # or —SO 2 —O— ## , wherein the oxygen atom represented by A is not an oxygen atom bonded directly to an aromatic ring, a carbonyl group, or a sulfoxyl group, R′ represents a hydrogen atom or an alkali-labile group, and “#” and “##” indicates a bonding hand bonded to R 1 . -A-R 1 (x)
    一种辐射敏感树脂组合物包括第一聚合物,其中包括酸敏感基团,酸发生剂用于在辐射照射后生成酸,以及第二聚合物,其中包括原子和由通用公式(x)表示的功能基团。第二聚合物的原子含量高于第一聚合物的原子含量。R1代表碱性易裂解基团。A代表氧原子,-NR′—,-CO—O—#或-SO2—O—##,其中A代表的氧原子不是直接与芳香环、酰基或亚砜基结合的氧原子,R′代表氢原子或碱性易裂解基团,“#”和“##”表示与R1结合的键合手。-A-R1(x)
  • OPTICAL COMPONENT FORMING COMPOSITION AND CURED PRODUCT THEREOF
    申请人:Mitsubishi Gas Chemical Company, Inc.
    公开号:US20200262787A1
    公开(公告)日:2020-08-20
    The present invention provides an optical component forming composition comprising a tellurium-containing compound or a tellurium-containing resin.
    本发明提供了一种包括含化合物或含树脂的光学元件成型组合物。
  • PHOTORESIST COMPOSITION, RESIST-PATTERN FORMING METHOD, POLYMER, AND COMPOUND
    申请人:SATO Mitsuo
    公开号:US20120258402A1
    公开(公告)日:2012-10-11
    A photoresist composition includes a polymer that includes a structural unit shown by the following formula (1), and a photoacid generator. R 1 in the formula (1) represents a hydrogen atom, a fluorine atom, a methyl group, or a trifluoromethyl group, Z represents a group that forms a divalent alicyclic group having 3 to 20 carbon atoms together with a carbon atom bonded to X, X represents an alkanediyl group having 1 to 6 carbon atoms, Y represents a hydrogen atom or —CR 2 R 3 (OR 4 ), and R 2 to R 4 independently represent a hydrogen atom or a monovalent hydrocarbon group, provided that R 3 and R 4 optionally bond to each other to form a cyclic ether structure together with a carbon atom bonded to R 3 and an oxygen atom bonded to R 4 .
    一种光阻剂组合物包括一个聚合物,该聚合物包括下式(1)所示的结构单元,以及一个光酸发生剂。在式(1)中,R1代表氢原子、原子、甲基基团或三甲基基团,Z代表与与X键合的碳原子一起形成具有3到20个碳原子的二价脂环族基团,X代表具有1到6个碳原子的脂肪二基基团,Y代表氢原子或—CR2R3(OR4),R2到R4独立地代表氢原子或一价烃基团,其中R3和R4可选择地相互键合以与与R3键合的碳原子和与R4键合的氧原子一起形成环状醚结构。
  • PATTERN-FORMING METHOD AND RADIATION-SENSITIVE COMPOSITION
    申请人:JSR CORPORATION
    公开号:US20210181627A1
    公开(公告)日:2021-06-17
    A pattern-forming method includes: applying directly or indirectly on a substrate a radiation-sensitive composition containing a complex and an organic solvent to form a film; exposing the film to an ultraviolet ray, a far ultraviolet ray, an extreme ultraviolet ray, or an electron beam; and developing the film exposed, wherein the complex is represented by formula (1). [M m L n Q p ]  (1) In the formula (1), M represents a zinc atom, a cobalt atom, a nickel atom, a hafnium atom, a zirconium atom, a titanium atom, an iron atom, a chromium atom, a manganese atom, or an indium atom; and L represents a ligand derived from a compound represented by formula (2). R 1 —CHR 3 —R 2 (2) In the formula (2), R 1 and R 2 each independently represent —C(═O)—R A , —C(═O)—OR B , or —CN.
    一种图案形成方法包括:在基板上直接或间接地涂覆含有复合物和有机溶剂的辐射敏感组合物以形成膜;将膜暴露于紫外线、远紫外线、极紫外线或电子束;和显影所暴露的膜,其中该复合物由式(1)表示。[MmLnQp] (1)在式(1)中,M代表原子、原子、原子、原子、原子、原子、原子、原子、原子或原子;L代表来自由式(2)表示的化合物的配体。R1—CHR3—R2(2)在式(2)中,R1和R2分别独立地表示—C(═O)—RA、—C(═O)—ORB或—CN。
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