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naphthol | 1429608-62-7

中文名称
——
中文别名
——
英文名称
naphthol
英文别名
6-[9,18,18,27,27-Pentakis(6-hydroxynaphthalen-2-yl)-9-heptacyclo[18.7.0.02,10.03,8.011,19.012,17.021,26]heptacosa-1(20),2(10),3,5,7,11(19),12,14,16,21,23,25-dodecaenyl]naphthalen-2-ol;6-[9,18,18,27,27-pentakis(6-hydroxynaphthalen-2-yl)-9-heptacyclo[18.7.0.02,10.03,8.011,19.012,17.021,26]heptacosa-1(20),2(10),3,5,7,11(19),12,14,16,21,23,25-dodecaenyl]naphthalen-2-ol
naphthol化学式
CAS
1429608-62-7
化学式
C87H54O6
mdl
——
分子量
1195.38
InChiKey
GFXJPVMTZBFMOG-UHFFFAOYSA-N
BEILSTEIN
——
EINECS
——
  • 物化性质
  • 计算性质
  • ADMET
  • 安全信息
  • SDS
  • 制备方法与用途
  • 上下游信息
  • 反应信息
  • 文献信息
  • 表征谱图
  • 同类化合物
  • 相关功能分类
  • 相关结构分类

计算性质

  • 辛醇/水分配系数(LogP):
    21.5
  • 重原子数:
    93
  • 可旋转键数:
    6
  • 环数:
    19.0
  • sp3杂化的碳原子比例:
    0.03
  • 拓扑面积:
    121
  • 氢给体数:
    6
  • 氢受体数:
    6

反应信息

  • 作为产物:
    描述:
    5H-二茚并[1,2-a:1',2'-c]芴-5,10,15-三酮2-萘酚硫酸3-巯基丙酸 作用下, 以 甲苯 为溶剂, 反应 10.0h, 生成 naphthol
    参考文献:
    名称:
    RESIST UNDERLAYER FILM COMPOSITION AND PATTERNING PROCESS USING THE SAME
    摘要:
    公开了一种抗蚀底层膜组合物,该抗蚀底层膜组合物包含一种三苯乙烷化合物,其具有如下通式(1)所示的取代或未取代萘酚基。可以提供一种抗蚀底层膜组合物,以形成一种能够减少反射并具有高蚀刻抗性和耐热性的抗蚀底层膜。
    公开号:
    US20130087529A1
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文献信息

  • NOVEL COMPOUND, SEMICONDUCTOR MATERIAL, AND METHODS FOR MANUFACTURING COATING AND SEMICONDUCTOR USING THE SAME
    申请人:Merck Patent GmbH
    公开号:US20200044158A1
    公开(公告)日:2020-02-06
    An object is to provide a semiconductor material and coating having high solubility in solvents and having advantageous filling property, high heat resistance, and/or high etching resistance. Another object is to provide a method for manufacturing a semiconductor using the semiconductor material. Still another object is to provide a novel compound. Provided are: a semiconductor material consisting of a specific aromatic hydrocarbon ring derivative; methods for manufacturing a coating and a semiconductor using the semiconductor material; and a compound consisting of a specific aromatic hydrocarbon ring derivative.
  • US9146468B2
    申请人:——
    公开号:US9146468B2
    公开(公告)日:2015-09-29
  • US9958781B2
    申请人:——
    公开号:US9958781B2
    公开(公告)日:2018-05-01
  • RESIST UNDERLAYER FILM COMPOSITION AND PATTERNING PROCESS USING THE SAME
    申请人:Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.
    公开号:US20130087529A1
    公开(公告)日:2013-04-11
    There is disclosed A resist underlayer film composition, the resist underlayer film composition contains a truxene compound having a substituted or an unsubstituted naphthol group as shown by the following general formula (1). There can be provided a resist underlayer film composition to form a resist underlayer film being capable of reducing reflectance and having high etching resistance, heat resistance.
    公开了一种抗蚀底层膜组合物,该抗蚀底层膜组合物包含一种三苯乙烷化合物,其具有如下通式(1)所示的取代或未取代萘酚基。可以提供一种抗蚀底层膜组合物,以形成一种能够减少反射并具有高蚀刻抗性和耐热性的抗蚀底层膜。
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