摩熵化学
数据库官网
小程序
打开微信扫一扫
首页 分子通 化学资讯 化学百科 反应查询 关于我们
请输入关键词

1,1-difluoro-2-(2-hydroxy-2-phenylethoxy)ethanesulfonic acid sodium salt | 1392417-57-0

中文名称
——
中文别名
——
英文名称
1,1-difluoro-2-(2-hydroxy-2-phenylethoxy)ethanesulfonic acid sodium salt
英文别名
1,1-Difluoro-2-(2-hydroxy-2-phenylethoxy)ethanesulfonic acid sodium salt;sodium;1,1-difluoro-2-(2-hydroxy-2-phenylethoxy)ethanesulfonate
1,1-difluoro-2-(2-hydroxy-2-phenylethoxy)ethanesulfonic acid sodium salt化学式
CAS
1392417-57-0
化学式
C10H11F2O5S*Na
mdl
——
分子量
304.247
InChiKey
XBVSRHLTLPWCCL-UHFFFAOYSA-M
BEILSTEIN
——
EINECS
——
  • 物化性质
  • 计算性质
  • ADMET
  • 安全信息
  • SDS
  • 制备方法与用途
  • 上下游信息
  • 反应信息
  • 文献信息
  • 表征谱图
  • 同类化合物
  • 相关功能分类
  • 相关结构分类

计算性质

  • 辛醇/水分配系数(LogP):
    -2.12
  • 重原子数:
    19
  • 可旋转键数:
    6
  • 环数:
    1.0
  • sp3杂化的碳原子比例:
    0.4
  • 拓扑面积:
    95
  • 氢给体数:
    1
  • 氢受体数:
    7

反应信息

  • 作为反应物:
    描述:
    1,1-difluoro-2-(2-hydroxy-2-phenylethoxy)ethanesulfonic acid sodium salt三乙胺 作用下, 以 1,1-二氯乙烷 为溶剂, 反应 2.0h, 生成 benzoic acid 2-(2,2-difluoro-2-sulfoethoxy)-1-phenylethyl ester diphenyl fluorophenyl sulfonium salt
    参考文献:
    名称:
    PHOTOACID GENERATOR, METHOD FOR PRODUCING THE SAME, AND RESIST COMPOSITION COMPRISING THE SAME
    摘要:
    提供以下公式(1)所代表的光酸发生剂、生产光酸发生剂的方法以及含有光酸发生剂的抗蚀组合物。在公式(1)中,Y1、Y2、X、R1、R2、n1、n2和A+的含义与发明详细说明中定义的含义相同。该光酸发生剂可以在ArF液体浸没光刻时保持适当的接触角,可以减少液体浸没光刻过程中发生的缺陷,并且在抗蚀溶剂中具有优异的溶解性和与树脂的优异兼容性。此外,该光酸发生剂可以通过使用工业上易获得的环氧化合物进行高效简单的生产方法制备。
    公开号:
    US20120203024A1
  • 作为产物:
    描述:
    氧化苯乙烯1,1-difluoro-2-hydroxyethanesulfonic acid sodium salt硫酸 作用下, 以 1,1-二氯乙烷 为溶剂, 反应 2.0h, 以86%的产率得到1,1-difluoro-2-(2-hydroxy-2-phenylethoxy)ethanesulfonic acid sodium salt
    参考文献:
    名称:
    PHOTOACID GENERATOR, METHOD FOR PRODUCING THE SAME, AND RESIST COMPOSITION COMPRISING THE SAME
    摘要:
    提供以下公式(1)所代表的光酸发生剂、生产光酸发生剂的方法以及含有光酸发生剂的抗蚀组合物。在公式(1)中,Y1、Y2、X、R1、R2、n1、n2和A+的含义与发明详细说明中定义的含义相同。该光酸发生剂可以在ArF液体浸没光刻时保持适当的接触角,可以减少液体浸没光刻过程中发生的缺陷,并且在抗蚀溶剂中具有优异的溶解性和与树脂的优异兼容性。此外,该光酸发生剂可以通过使用工业上易获得的环氧化合物进行高效简单的生产方法制备。
    公开号:
    US20120203024A1
点击查看最新优质反应信息

文献信息

  • Photoacid generator, method for producing the same, and resist composition comprising the same
    申请人:Oh Jung Hoon
    公开号:US08889901B2
    公开(公告)日:2014-11-18
    A photoacid generator represented by the following formula (1), a method for producing the photoacid generator, and a resist composition containing the photoacid generator are provided. wherein in the formula (1), Y, X, R1, R2, n1, n2 and A+ have the same meanings as defined in the detailed description of the invention. The photoacid generator can maintain an appropriate contact angle at the time of ArF liquid immersion lithography, can reduce defects occurring during liquid immersion lithography, and has excellent solubility in resist solvents and excellent compatibility with resins. Furthermore, the photoacid generator can be produced by an efficient and simple method using an epoxy compound that is industrially easily available.
    本发明提供了一种由以下式子(1)所代表的光酸发生剂、制备该光酸发生剂的方法以及含有该光酸发生剂的抗蚀剂组合物。在式(1)中,Y、X、R1、R2、n1、n2和A+的含义与本发明详细说明中定义的含义相同。该光酸发生剂在ArF液体浸没光刻时可以保持适当的接触角,可以减少液体浸没光刻时发生的缺陷,并且在抗蚀剂溶剂中具有优异的溶解性和与树脂的优异相容性。此外,该光酸发生剂可以通过使用工业上易得的环氧化合物进行高效简单的方法制备。
  • US8617789B2
    申请人:——
    公开号:US8617789B2
    公开(公告)日:2013-12-31
  • US8889901B2
    申请人:——
    公开号:US8889901B2
    公开(公告)日:2014-11-18
  • PHOTOACID GENERATOR, METHOD FOR PRODUCING THE SAME, AND RESIST COMPOSITION COMPRISING THE SAME
    申请人:OH Jung Hoon
    公开号:US20120203024A1
    公开(公告)日:2012-08-09
    A photoacid generator represented by the following formula (1), a method for producing the photoacid generator, and a resist composition containing the photoacid generator are provided. wherein in the formula (1), Y 1 , Y 2 , X, R 1 , R 2 , n 1 , n 2 and A + have the same meanings as defined in the detailed description of the invention. The photoacid generator can maintain an appropriate contact angle at the time of ArF liquid immersion lithography, can reduce defects occurring during liquid immersion lithography, and has excellent solubility in resist solvents and excellent compatibility with resins. Furthermore, the photoacid generator can be produced by an efficient and simple method using an epoxy compound that is industrially easily available.
    提供以下公式(1)所代表的光酸发生剂、生产光酸发生剂的方法以及含有光酸发生剂的抗蚀组合物。在公式(1)中,Y1、Y2、X、R1、R2、n1、n2和A+的含义与发明详细说明中定义的含义相同。该光酸发生剂可以在ArF液体浸没光刻时保持适当的接触角,可以减少液体浸没光刻过程中发生的缺陷,并且在抗蚀溶剂中具有优异的溶解性和与树脂的优异兼容性。此外,该光酸发生剂可以通过使用工业上易获得的环氧化合物进行高效简单的生产方法制备。
查看更多

同类化合物

(βS)-β-氨基-4-(4-羟基苯氧基)-3,5-二碘苯甲丙醇 (S)-(-)-7'-〔4(S)-(苄基)恶唑-2-基]-7-二(3,5-二-叔丁基苯基)膦基-2,2',3,3'-四氢-1,1-螺二氢茚 (S)-盐酸沙丁胺醇 (S)-3-(叔丁基)-4-(2,6-二甲氧基苯基)-2,3-二氢苯并[d][1,3]氧磷杂环戊二烯 (S)-2,2'-双[双(3,5-三氟甲基苯基)膦基]-4,4',6,6'-四甲氧基联苯 (S)-1-[3,5-双(三氟甲基)苯基]-3-[1-(二甲基氨基)-3-甲基丁烷-2-基]硫脲 (R)富马酸托特罗定 (R)-(-)-盐酸尼古地平 (R)-(+)-7-双(3,5-二叔丁基苯基)膦基7''-[((6-甲基吡啶-2-基甲基)氨基]-2,2'',3,3''-四氢-1,1''-螺双茚满 (R)-3-(叔丁基)-4-(2,6-二苯氧基苯基)-2,3-二氢苯并[d][1,3]氧杂磷杂环戊烯 (R)-2-[((二苯基膦基)甲基]吡咯烷 (N-(4-甲氧基苯基)-N-甲基-3-(1-哌啶基)丙-2-烯酰胺) (5-溴-2-羟基苯基)-4-氯苯甲酮 (5-溴-2-氯苯基)(4-羟基苯基)甲酮 (5-氧代-3-苯基-2,5-二氢-1,2,3,4-oxatriazol-3-鎓) (4S,5R)-4-甲基-5-苯基-1,2,3-氧代噻唑烷-2,2-二氧化物-3-羧酸叔丁酯 (4-溴苯基)-[2-氟-4-[6-[甲基(丙-2-烯基)氨基]己氧基]苯基]甲酮 (4-丁氧基苯甲基)三苯基溴化磷 (3aR,8aR)-(-)-4,4,8,8-四(3,5-二甲基苯基)四氢-2,2-二甲基-6-苯基-1,3-二氧戊环[4,5-e]二恶唑磷 (2Z)-3-[[(4-氯苯基)氨基]-2-氰基丙烯酸乙酯 (2S,3S,5S)-5-(叔丁氧基甲酰氨基)-2-(N-5-噻唑基-甲氧羰基)氨基-1,6-二苯基-3-羟基己烷 (2S,2''S,3S,3''S)-3,3''-二叔丁基-4,4''-双(2,6-二甲氧基苯基)-2,2'',3,3''-四氢-2,2''-联苯并[d][1,3]氧杂磷杂戊环 (2S)-(-)-2-{[[[[3,5-双(氟代甲基)苯基]氨基]硫代甲基]氨基}-N-(二苯基甲基)-N,3,3-三甲基丁酰胺 (2S)-2-[[[[[[((1R,2R)-2-氨基环己基]氨基]硫代甲基]氨基]-N-(二苯甲基)-N,3,3-三甲基丁酰胺 (2-硝基苯基)磷酸三酰胺 (2,6-二氯苯基)乙酰氯 (2,3-二甲氧基-5-甲基苯基)硼酸 (1S,2S,3S,5S)-5-叠氮基-3-(苯基甲氧基)-2-[(苯基甲氧基)甲基]环戊醇 (1-(4-氟苯基)环丙基)甲胺盐酸盐 (1-(3-溴苯基)环丁基)甲胺盐酸盐 (1-(2-氯苯基)环丁基)甲胺盐酸盐 (1-(2-氟苯基)环丙基)甲胺盐酸盐 (-)-去甲基西布曲明 龙胆酸钠 龙胆酸叔丁酯 龙胆酸 龙胆紫 龙胆紫 齐达帕胺 齐诺康唑 齐洛呋胺 齐墩果-12-烯[2,3-c][1,2,5]恶二唑-28-酸苯甲酯 齐培丙醇 齐咪苯 齐仑太尔 黑染料 黄酮,5-氨基-6-羟基-(5CI) 黄酮,6-氨基-3-羟基-(6CI) 黄蜡,合成物 黄草灵钾盐