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2,4,5,7,10-Pentakis(methoxymethyl)anthracene-1,8,9-triol

中文名称
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中文别名
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英文名称
2,4,5,7,10-Pentakis(methoxymethyl)anthracene-1,8,9-triol
英文别名
2,4,5,7,10-pentakis(methoxymethyl)anthracene-1,8,9-triol
2,4,5,7,10-Pentakis(methoxymethyl)anthracene-1,8,9-triol化学式
CAS
——
化学式
C24H30O8
mdl
——
分子量
446.5
InChiKey
RNRFGFQJBQSMLH-UHFFFAOYSA-N
BEILSTEIN
——
EINECS
——
  • 物化性质
  • 计算性质
  • ADMET
  • 安全信息
  • SDS
  • 制备方法与用途
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  • 反应信息
  • 文献信息
  • 表征谱图
  • 同类化合物
  • 相关功能分类
  • 相关结构分类

计算性质

  • 辛醇/水分配系数(LogP):
    2.2
  • 重原子数:
    32
  • 可旋转键数:
    10
  • 环数:
    3.0
  • sp3杂化的碳原子比例:
    0.42
  • 拓扑面积:
    107
  • 氢给体数:
    3
  • 氢受体数:
    8

文献信息

  • Composition for film formation, film, resist underlayer film-forming method, production method of patterned substrate, and compound
    申请人:JSR CORPORATION
    公开号:US11003079B2
    公开(公告)日:2021-05-11
    The composition for film formation includes a compound including a group of the formula (1) and a solvent. In the formula (1), R1 to R4 each independently represent a hydrogen atom, a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms, or R1 to R4 taken together represent a cyclic structure having 3 to 20 ring atoms together with the carbon atom or a carbon chain to which R1 to R4 bond. Ar1 represents a group obtained by removing (n+3) hydrogen atoms from an aromatic ring of an arene having 6 to 20 carbon atoms. n is an integer of 0 to 9. R5 represents a hydroxy group, a halogen atom, a nitro group, or a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms.
    用于成膜的组合物包括一种包括式(1)基团的化合物和一种溶剂。在式 (1) 中,R1 至 R4 各自独立地代表氢原子、具有 1 至 20 个碳原子的一价有机基团,或 R1 至 R4 合在一起代表具有 3 至 20 个环原子的环状结构以及 R1 至 R4 所键合的碳原子或碳链。Ar1 代表通过从具有 6 至 20 个碳原子的芳香环中移除 (n+3) 个氢原子而得到的基团,n 为 0 至 9 的整数。R5 代表羟基、卤素原子、硝基或具有 1 至 20 个碳原子的一价有机基团。
  • Composition for resist underlayer film formation, resist underlayer film and forming method thereof, production method of patterned substrate, and compound
    申请人:JSR CORPORATION
    公开号:US11126084B2
    公开(公告)日:2021-09-21
    A composition for resist underlayer film formation contains a compound having a group represented by formula (1), and a solvent. R1 represents an organic group having 2 to 10 carbon atoms and having a valency of (m+n), wherein the carbon atoms include two carbon atoms that are adjacent to each other, with a hydroxy group or an alkoxy group bonding to one of the two carbon atoms, and with a hydrogen atom bonding to another of the two carbon atoms; L1 represents an ethynediyl group or a substituted or unsubstituted ethenediyl group; R2 represents a hydrogen atom or a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms; n is an integer of 1 to 3; * denotes a bonding site to a moiety other than the group represented by the formula (1) in the compound; and m is an integer of 1 to 3.
    一种用于形成抗蚀剂底层膜的组合物含有一种具有式(1)所代表基团的化合物和一种溶剂。R1 代表具有 2 至 10 个碳原子且化合价为(m+n)的有机基团,其中碳原子包括两个相邻的碳原子,羟基或烷氧基与这两个碳原子中的一个键合,氢原子与这两个碳原子中的另一个键合;L1 代表乙炔二基或取代或未取代的乙烯二基; R2 代表氢原子或具有 1 至 20 个碳原子的一价有机基团; n 是 1 至 3 的整数; * 表示与化合物中除式 (1) 所代表的基团以外的其他分子的键合位点;以及 m 是 1 至 3 的整数。
  • Composition for resist underlayer film formation, resist underlayer film and formation method thereof, and patterned substrate production method
    申请人:JSR CORPORATION
    公开号:US11243468B2
    公开(公告)日:2022-02-08
    A composition for resist underlayer film formation contains: a compound having a partial structure represented by the following formula (1); and a solvent. In the formula (1): X represents a group represented by formula (i), (ii), (iii) or (iv). In the formula (i): R1 and R2 each independently represent a hydrogen atom, a substituted or unsubstituted monovalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms, or a substituted or unsubstituted aralkyl group having 7 to 20 carbon atoms provided that at least one of R1 and R2 represents the substituted or unsubstituted monovalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms or the substituted or unsubstituted aralkyl group having 7 to 20 carbon atoms; or R1 and R2 taken together represent a part of a ring structure having 3 to 20 ring atoms together with the carbon atom to which R1 and R2 bond.
    一种用于形成抗蚀剂底层薄膜的组合物包含:具有下式(1)所代表的部分结构的化合物;以及溶剂。在式 (1) 中X 代表由式(i)、(ii)、(iii)或(iv)表示的基团。在式 (i) 中R1 和 R2 各自独立地代表氢原子、具有 1 至 20 个碳原子的取代或未取代的一价脂 族烃基或具有 7 至 20 个碳原子的取代或未取代的芳烷基,条件是 R1 和 R2 中至少 有一个代表具有 1 至 20 个碳原子的取代或未取代的一价脂族烃基或具有 7 至 20 个碳原子 的取代或未取代的芳烷基;或 R1 和 R2 合在一起代表具有 3 至 20 个环原子的环状结构的一部分,以及 R1 和 R2 键合的碳原子。
  • Composition for resist underlayer film formation, resist underlayer film and method for forming the same, and production method of a patterned substrate
    申请人:JSR CORPORATION
    公开号:US11215928B2
    公开(公告)日:2022-01-04
    A composition for resist underlayer film formation contains: a first compound including at least one oxazine structure fused to an aromatic ring; and a solvent. The first compound preferably includes a partial structure represented by formula (1). In formula (1), R2 to R5 each independently represent a hydrogen atom or a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms; Ar1 represents a group obtained by removing (n+3) or (n+2) hydrogen atoms on the aromatic ring from an arene having 6 to 20 carbon atoms; R6 represents a hydroxy group, a halogen atom, a nitro group or a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms; and n is an integer of 0 to 9.
    一种用于形成抗蚀剂底层薄膜的组合物含有:第一种化合物,其中包括至少一种与芳香环融合的噁嗪结构;以及一种溶剂。第一种化合物最好包括由式(1)表示的部分结构。在式 (1) 中,R2 至 R5 各自独立地代表氢原子或具有 1 至 20 个碳原子的一价有机基团;Ar1 代表通过从具有 6 至 20 个碳原子的芳香环上除去 (n+3) 或 (n+2) 个氢原子而得到的基团;R6 代表羟基、卤素原子、硝基或具有 1 至 20 个碳原子的一价有机基团;以及 n 是 0 至 9 的整数。
  • US20140272722A1
    申请人:——
    公开号:US20140272722A1
    公开(公告)日:2014-09-18
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