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3α-acetylcholanic acid

中文名称
——
中文别名
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英文名称
3α-acetylcholanic acid
英文别名
3alpha-Acetylcholanic acid;(4R)-4-[(3R,8R,9S,10S,13R,14S,17R)-3-acetyl-10,13-dimethyl-2,3,4,5,6,7,8,9,11,12,14,15,16,17-tetradecahydro-1H-cyclopenta[a]phenanthren-17-yl]pentanoic acid
3α-acetylcholanic acid化学式
CAS
——
化学式
C26H42O3
mdl
——
分子量
402.618
InChiKey
ACUXCRSDTXAZNO-HKIYFDAASA-N
BEILSTEIN
——
EINECS
——
  • 物化性质
  • 计算性质
  • ADMET
  • 安全信息
  • SDS
  • 制备方法与用途
  • 上下游信息
  • 反应信息
  • 文献信息
  • 表征谱图
  • 同类化合物
  • 相关功能分类
  • 相关结构分类

计算性质

  • 辛醇/水分配系数(LogP):
    6.8
  • 重原子数:
    29
  • 可旋转键数:
    5
  • 环数:
    4.0
  • sp3杂化的碳原子比例:
    0.92
  • 拓扑面积:
    54.4
  • 氢给体数:
    1
  • 氢受体数:
    3

上下游信息

  • 上游原料
    中文名称 英文名称 CAS号 化学式 分子量

反应信息

  • 作为产物:
    描述:
    石胆酸乙酰氯三乙胺 作用下, 以 四氢呋喃乙酸乙酯 为溶剂, 生成 3α-acetylcholanic acid
    参考文献:
    名称:
    Additive for photoresist composition for resist flow process
    摘要:
    本发明提供了一种用于抗蚀流程的光阻组合物的添加剂。将具有低玻璃化转变温度的下式1化合物添加到光阻组合物中,该光阻组合物包含由于其高玻璃化转变温度而不适合于抗蚀流程的聚合物,从而改善了光阻组合物的流动性能。因此,包含式1添加剂的光阻组合物可用于抗蚀流程。 式中,A、B、R和R'如本发明说明书中所定义。
    公开号:
    US20020022197A1
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文献信息

  • US6770414B2
    申请人:——
    公开号:US6770414B2
    公开(公告)日:2004-08-03
  • US7150961B2
    申请人:——
    公开号:US7150961B2
    公开(公告)日:2006-12-19
  • Additive for photoresist composition for resist flow process
    申请人:——
    公开号:US20020022197A1
    公开(公告)日:2002-02-21
    The present invention provides an additive for a photoresist composition for a resist flow process. A compound of following Formula 1 having low glass transition temperature is added to a photoresist composition containing a polymer which is not suitable for the resist flow process due to its high glass transition temperature, thus improving a flow property of the photoresist composition. As a result, the photoresist composition comprising an additive of Formula 1 can be used for the resist flow process. 1 wherein, A, B, R and R′ are as defined in the specification of the invention.
    本发明提供了一种用于抗蚀流程的光阻组合物的添加剂。将具有低玻璃化转变温度的下式1化合物添加到光阻组合物中,该光阻组合物包含由于其高玻璃化转变温度而不适合于抗蚀流程的聚合物,从而改善了光阻组合物的流动性能。因此,包含式1添加剂的光阻组合物可用于抗蚀流程。 式中,A、B、R和R'如本发明说明书中所定义。
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