NMP 中一系列芳基卤化物自由基阴离子 (ArX-: X = Cl, Br) 的碳 - 卤素键解离速率在室温下通过脉冲辐射分解测量,时间分辨率为 10-11 秒。为了获得准确的解离率,需要注意测量和校正竞争性衰变通道。观察到的速率与通过密度泛函 (DFT) 计算在气相中计算的活化能很好地相关。这些速率与通过相同计算方法获得的电子亲和力或解离能没有很好的相关性,尽管文献中报道了这种相关性并且是基于简单模型的预期。计算还发现过渡态结构具有弯曲的碳卤键。通过涉及 phi* 和 sigma* 状态混合的电子效应,弯曲能够大幅降低激活能。计算出这种弯曲引起的混合可以将解离速率提高几个数量级,因此对于理解这些反应至关重要。