摘要:
使用导电探针原子力显微镜 (CP-AFM) 结合紫外光电子测量并关联了基于寡并苯(苯、萘、蒽和并四苯)硫醇和二硫醇分子的金属-分子-金属结的隧道电阻和电子结构光谱学(UPS)。纳米级隧道结 (~10 nm(2)) 是通过接触平面 Ag、Au 或 Pt 基板上的低聚并苯自组装单层 (SAM) 与金属化 AFM 尖端(Ag、Au 或 Pt)而形成的。低偏置 (<0.2 V) 结电阻 (R) 随分子长度 (s) 呈指数增加,即 R = R(0) exp(βs),其中 R(0) 是接触电阻,β 是隧道衰减因素。低聚并苯二硫醇的 R(0) 值比低聚并苯硫醇低 2 个数量级。同样,β 值为 0。对于二硫醇系列,每环 5 个 (0.2 Å(-1)),对于单硫醇系列,每环 1.0 个 (0.5 Å(-1)),这表明 β 不仅是分子骨架的一个特征,而且受化学(金属-S)触点的数量。随着单硫醇和二硫醇结的接触功函数