bisphenol A bis-(4-tert-butylphenyl carbonate) | 33593-18-9

• 分子结构分类: 有机化合物 - 苯类化合物 - 苯和取代衍生物
• 英文名称: bisphenol A bis-(4-tert-butylphenyl carbonate)
• 英文别名: Poly[oxycarbonyloxy-1,4-phenylene(1-methylethylidene)-1,4-phenylene], I+/--[4-(1,1-dimethylethyl)phenyl]-I-[[[4-(1,1-dimethylethyl)phenoxy]carbonyl]oxy]-；[4-[2-[4-(4-tert-butylphenoxy)carbonyloxyphenyl]propan-2-yl]phenyl] (4-tert-butylphenyl) carbonate
• CAS: 33593-18-9
• 化学式: C₃₇H₄₀O₆
• 分子量: 580.721
• InChiKey: UZYFLDYXXKASTR-UHFFFAOYSA-N

计算性质

• 辛醇/水分配系数(LogP)：
  11.5
• 重原子数：
  43
• 可旋转键数：
  12
• 环数：
  4.0
• sp3杂化的碳原子比例：
  0.3
• 拓扑面积：
  71.1
• 氢给体数：
  0
• 氢受体数：
  6

文献信息

• Verfahren zur Herstellung von Polycarbonat nach dem Schmelzeumesterungsverfahren
  申请人：Bayer MaterialScience AG

  公开号：EP2058363A1

  公开（公告）日：2009-05-13

  Gegenstand der Erfindung ist ein Verfahren zur Herstellung von Polycarbonat nach dem Schmelzeumesterungsverfahren, Polycarbonat mit niedriger elektrostatischer Aufladung erhältlich nach diesem Verfahren sowie Formteile oder Extrudate, insbesondere optische Datenspeicher oder Streulichtscheiben aus diesem Polycarbonat.

  本发明的主题是一种通过熔融酯交换工艺生产聚碳酸酯的工艺、通过这种工艺获得的低静电荷聚碳酸酯以及用这种聚碳酸酯制成的模制件或挤出件，特别是光学数据存储设备或散射光盘。
• SUBSTRATMATERIALIEN FÜR TRANSPARENTE SPRITZGUSSTEILE
  申请人：Bayer MaterialScience AG

  公开号：EP1834194B1

  公开（公告）日：2012-07-18
• SUBSTRATMATERIAL AUS POLYCARBONAT FÜR TRANSPARENTE SPRITZGUSSTEILE
  申请人：Bayer MaterialScience AG

  公开号：EP1846474A1

  公开（公告）日：2007-10-24
• VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG VON POLYCARBONAT NACH DEM SCHMELZEUMESTERUNGSVERFAHREN
  申请人：Bayer MaterialScience AG

  公开号：EP2147038A2

  公开（公告）日：2010-01-27
• [DE] SUBSTRATMATERIALIEN FÜR TRANSPARENTE SPRITZGUSSTEILE<br/>[EN] SUBSTRATE MATERIALS FOR TRANSPARENT INJECTION MOULDED PIECES<br/>[FR] MATERIAUX DE SUBSTRAT POUR PIECES MOULEES PAR INJECTION TRANSPARENTES
  申请人：BAYER MATERIALSCIENCE AG

  公开号：WO2006072352A1

  公开（公告）日：2006-07-13

  [EN] The invention relates to a substrate material, characterised in that a charged region on the surface of the corresponding moulding piece with voltages of -1.5 to +1.5 kV, the proportion of the total surface of which is between 95 and 100 %, charged regions with voltages of -1.5 to -2.5 or +1.5 to +2.5, the proportion of which is 0 to 5 % and charged regions of <-2.5 kV or >+2.5 kV, the proportion of which is up to 1 % of the total surface of the disc are provided, whereby the potential measurement is achieved by means of a Monroe probe at a distance of 3.5 mm from the substrate surface, the scanning region measures 12 cm in both the X- and Y-direction and potentials are measured at each 2 mm in the X- and in the Y-direction.
  [FR] L'invention concerne un matériau de substrat, caractérisé en ce que la surface d'une pièce moulée correspondante présente des zones de potentiel avec des charges de -1,5 à +1,5 kV, dont la proportion par rapport à la surface totale est comprise entre 95 et 100 %, des zones de potentiel entre -1,5 et -2,5 ou +1,5 à +2,5 kV, dont la proportion est de 0 à 5 %, et des zones de potentiel < -2,5 kV ou > +2,5 kV, dont la proportion maximale s'élève à 1 % de la surface totale du disque, la mesure de potentiel étant effectuée au moyen d'une sonde de Monroe à une distance de 3,5 mm de la surface du substrat, la zone de balayage s'étendant sur 12 cm dans les sens X et Y et le potentiel étant mesuré tous les 2 mm dans les sens X et Y.
  [DE] Substratmaterial, dadurch gekennzeichnet, dass an der Oberfläche eines entsprechenden Formteils Potenzialbereiche mit Ladungen von -1.5 bis +1.5 kV vorhanden sind, deren Anteil an der Gesamt­fläche zwischen 95 und 100% beträgt, und Potenzialbereiche zwischen -1.5 und -2.5 bzw. +1.5 bis +2.5 vorhanden sind, deren Anteil 0 bis 5% beträgt, und Potenzialbereiche <-2.5 kV bzw. >+2.5 kV vorhanden sind, deren Anteil bis zu 1% der Gesamtoberfläche der Disk beträgt, wobei die Po­tenzialmessung mittels einer Monroe-Sonde im Abstand von 3.5 mm von der Substratoberfläche erfolgt und der Abtastbereich jeweils 12 cm in X- und Y-Richtung beträgt und Potenzial in Schrit­ten von jeweils 2 mm in X- und in Y-Richtung gemessen wird.