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4-[3-(4-Butan-2-ylphenoxy)propoxy]-2,3,5,6-tetrafluorobenzenesulfonic acid

中文名称
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中文别名
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英文名称
4-[3-(4-Butan-2-ylphenoxy)propoxy]-2,3,5,6-tetrafluorobenzenesulfonic acid
英文别名
4-[3-(4-butan-2-ylphenoxy)propoxy]-2,3,5,6-tetrafluorobenzenesulfonic acid
4-[3-(4-Butan-2-ylphenoxy)propoxy]-2,3,5,6-tetrafluorobenzenesulfonic acid化学式
CAS
——
化学式
C19H20F4O5S
mdl
——
分子量
436.4
InChiKey
XCOGSEMQGRCUPV-UHFFFAOYSA-N
BEILSTEIN
——
EINECS
——
  • 物化性质
  • 计算性质
  • ADMET
  • 安全信息
  • SDS
  • 制备方法与用途
  • 上下游信息
  • 反应信息
  • 文献信息
  • 表征谱图
  • 同类化合物
  • 相关功能分类
  • 相关结构分类

计算性质

  • 辛醇/水分配系数(LogP):
    4.7
  • 重原子数:
    29
  • 可旋转键数:
    9
  • 环数:
    2.0
  • sp3杂化的碳原子比例:
    0.37
  • 拓扑面积:
    81.2
  • 氢给体数:
    1
  • 氢受体数:
    9

文献信息

  • ACTINIC RAY-SENSITIVE OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, RESIST FILM, PATTERN FORMING METHOD, MANUFACTURING METHOD OF ELECTRONIC DEVICE USING THE SAME, AND ELECTRONIC DEVICE
    申请人:FUJIFILM CORPORATION
    公开号:US20150185612A1
    公开(公告)日:2015-07-02
    There is provided an actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition comprising: (A) a resin having a repeating unit represented by the specific formula and a group capable of decomposing by an action of an acid to produce a polar group; and an ionic compound represented by the specific formula, and a resist film comprising the actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition.
    提供一种光致射线敏感或辐射敏感的树脂组合物,包括:(A)具有特定公式表示的重复单元和能够通过酸作用分解产生极性基团的基团的树脂;以及具有特定公式表示的离子化合物,以及包括该光致射线敏感或辐射敏感的树脂组合物的抗蚀膜。
  • PATTERN FORMING METHOD, COMPOSITION KIT AND RESIST FILM, AND METHOD FOR PRODUCING ELECTRONIC DEVICE USING THEM, AND ELECTRONIC DEVICE
    申请人:FUJIFILM CORPORATION
    公开号:US20160018734A1
    公开(公告)日:2016-01-21
    There is provided a pattern forming method comprising (a) a step of forming a film on a substrate using an electron beam-sensitive or extreme ultraviolet radiation-sensitive resin composition, (b) a step of forming a top coat layer on the film using a top coat composition containing a resin (T) containing at least any one of repeating units represented by formulae (I-1) to (I-5) shown below, (c) a step of exposing the film having the top coat layer using an electron beam or an extreme ultraviolet radiation, and (d) a step of developing the film having the top coat layer after the exposure to form a pattern.
    提供了一种图案形成方法,包括以下步骤:(a)使用电子束敏感或极紫外辐射敏感的树脂组合物在基板上形成薄膜的步骤,(b)使用含有至少一个由下式(I-1)到(I-5)中所示的重复单元表示的树脂(T)的顶层涂料组成的顶层涂料层的形成步骤,(c)使用电子束或极紫外辐射照射具有顶层涂料层的薄膜的步骤,以及(d)在照射后开发具有顶层涂料层的薄膜以形成图案的步骤。
  • Pattern forming method, composition kit and resist film, manufacturing method of electronic device using these, and electronic device
    申请人:FUJIFILM Corporation
    公开号:US10031419B2
    公开(公告)日:2018-07-24
    There is provided a pattern forming method comprising (i) forming a film on a substrate using an actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition which contains (A) a resin which decomposes due to an action of an acid to change its solubility with respect to a developer and (C) a specific resin, (ii) forming a top coat layer using a top coat composition which contains a resin (T) on the film, (iii) exposing the film which has the top coat layer to actinic rays or radiation, and (iv) forming a pattern by developing the film which has the top coat layer after the exposing.
    本发明提供了一种图案形成方法,包括(i)使用感光树脂组合物或辐射敏感树脂组合物在基底上形成胶片,该组合物包含(A)由于酸的作用而分解,从而改变其相对于显影剂的溶解度的树脂和(C)特定树脂、(ii) 使用含有树脂 (T) 的表层组合物在胶片上形成表层,(iii) 将具有表层的胶片暴露于放 射线或辐射,(iv) 在暴露后对具有表层的胶片进行显影,形成图案。
  • US20140272692A1
    申请人:——
    公开号:US20140272692A1
    公开(公告)日:2014-09-18
  • US20140342275A1
    申请人:——
    公开号:US20140342275A1
    公开(公告)日:2014-11-20
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