作者:Wen-Jui Lo、Yu-Jong Wu、Yuan-Pern Lee
DOI:10.1021/jp034563j
日期:2003.9.1
Disulfur monoxide dispersed in solid Ar at 15 K was irradiated with light at 308 nm from an XeCl excimer laser to form cyclic S 2 O, denoted cyc-S 2 O; cyc-S 2 O was identified according to infrared absorption lines reportedpreviously. Using a similar technique to produce cyc-S 2 O, we recorded both infrared and ultraviolet absorption spectra of the same matrix sample before and after photolysis at various
用 XeCl 准分子激光器发出的 308 nm 光照射 15 K 分散在固体 Ar 中的一氧化二硫,形成环状 S 2 O,记为 cyc-S 2 O;cyc-S 2 O是根据以前报道的红外吸收谱线鉴定的。使用类似的技术产生 cyc-S 2 O,我们记录了同一基质样品在不同阶段光解前后的红外和紫外吸收光谱。在 330-370 nm 范围内记录的以 ∼580 cm - 1 为间隔的进展与 cyc-S 2 O 的红外吸收线强度的变化密切相关。根据这一观察到的进展特征和垂直激发能量的计算和使用时间相关密度泛函理论的振荡器强度,我们暂时将此进展分配给 cyc-S 2 O 的电子跃迁 2 1 B 1 ← X 1 A 1;观察到的进展与激发态的 SS 拉伸 (v 2 ) 模式有关。2 1 B 1 态位于基态电子态上方约77.7 kcal mol - 1 (27 166 cm - 1 )。