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opt.akt.-2-Cyclohexyl-butyl-(2)-amin | 24325-59-5

中文名称
——
中文别名
——
英文名称
opt.akt.-2-Cyclohexyl-butyl-(2)-amin
英文别名
rac.-2-Cyclohexyl-butyl-(2)-amin;2-Cyclohexylbutan-2-amine
opt.akt.-2-Cyclohexyl-butyl-(2)-amin化学式
CAS
24325-59-5;24325-60-8
化学式
C10H21N
mdl
——
分子量
155.283
InChiKey
BFPPTCKLRGQYKE-UHFFFAOYSA-N
BEILSTEIN
——
EINECS
——
  • 物化性质
  • 计算性质
  • ADMET
  • 安全信息
  • SDS
  • 制备方法与用途
  • 上下游信息
  • 反应信息
  • 文献信息
  • 表征谱图
  • 同类化合物
  • 相关功能分类
  • 相关结构分类

计算性质

  • 辛醇/水分配系数(LogP):
    2.8
  • 重原子数:
    11
  • 可旋转键数:
    2
  • 环数:
    1.0
  • sp3杂化的碳原子比例:
    1.0
  • 拓扑面积:
    26
  • 氢给体数:
    1
  • 氢受体数:
    1

反应信息

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文献信息

  • TETRAZINE-CONTAINING COMPOUNDS AND SYNTHETIC METHODS THEREOF
    申请人:The Regents of the University of California
    公开号:US20160223559A1
    公开(公告)日:2016-08-04
    Described herein are tetrazine derivatives and efficient synthetic methods of synthesis thereof using elimination-Heck cascade reaction. Provided herein is the synthesis of conjugated tetrazines from the tetrazine derivatives. Also provided herein are methods of use of the conjugated tetrazines as fluorogenic probes for live-cell imaging.
    本文描述了四唑衍生物及利用消除-Heck级联反应的高效合成方法。本文提供了从四唑衍生物合成共轭四唑的方法。本文还提供了将共轭四唑用作活细胞成像的荧光探针的使用方法。
  • [EN] RESIST COMPOSITION, METHOD FOR FORMING RESIST PATTERN, METHOD FOR PRODUCING COMPOUNDS, INTERMEDIATE, AND COMPOUNDS<br/>[FR] COMPOSITION DE RÉSINE PHOTOSENSIBLE, PROCÉDÉ DE FORMATION DE MOTIF DE RÉSINE PHOTOSENSIBLE, PROCÉDÉ DE PRODUCTION DE COMPOSÉS, INTERMÉDIAIRE ET COMPOSÉS<br/>[JA] レジスト組成物、レジストパターン形成方法、化合物の製造方法、中間体及び化合物
    申请人:[en]TOKYO OHKA KOGYO CO., LTD.;[ja]東京応化工業株式会社
    公开号:WO2022265034A1
    公开(公告)日:2022-12-22
    樹脂成分(A1)と、一般式(b0)で表される化合物(B0)を含む、レジスト組成物(式中、X0は、臭素原子又はヨウ素原子である。Rmは、ヒドロキシ基等である。nb1は、1~5であり、nb2は、0~4であり、1≦nb1+nb2≦5である。Yb0は、2価の連結基又は単結合である。Vb0は、単結合、アルキレン基又はフッ素化アルキレン基である。R0は、水素原子、炭素数1~5のフッ素化アルキル基又はフッ素原子である。Rb1~Rb15は、それぞれ独立に、水素原子又は置換基である。ただし、Rb1~Rb5の少なくとも2つがフッ素原子であるか、Rb1~Rb5の少なくとも1つがパーフルオロアルキル基である)。
  • WO2022270627A1
    申请人:——
    公开号:WO2022270627A1
    公开(公告)日:2022-12-29
  • [EN] RESIST COMPOSITION AND METHOD FOR FORMING RESIST PATTERN<br/>[FR] COMPOSITION DE RÉSINE PHOTOSENSIBLE ET PROCÉDÉ DE FORMATION DE MOTIF DE RÉSINE PHOTOSENSIBLE<br/>[JA] レジスト組成物及びレジストパターン形成方法
    申请人:[en]TOKYO OHKA KOGYO CO., LTD.;[ja]東京応化工業株式会社
    公开号:WO2022264845A1
    公开(公告)日:2022-12-22
    露光により分解して酸拡散制御性を失う光崩壊性塩基を含む構成単位(a0)を有する樹脂成分(A1)と、一般式(b0)で表される化合物(B0)を含む酸発生剤成分(B)とを含有する、レジスト組成物(式中、X0は、臭素原子又はヨウ素原子である。Rmは、ヒドロキシ基、アルキル基、フッ素原子、又は、塩素原子である。nb1は、1~5の整数であり、nb2は、0~4の整数であり、1≦nb1+nb2≦5である。Yb0は、2価の連結基又は単結合である。Vb0は、単結合、アルキレン基又はフッ素化アルキレン基である。R0は、水素原子、炭素数1~5のフッ素化アルキル基又はフッ素原子である。Mm+は、m価の有機カチオンを表す。mは1以上の整数である。)。
  • Diazenes. IV. Circular dichroism of dialkyldiazenes (azoalkanes)
    作者:David J. Severn、Edward M. Kosower
    DOI:10.1021/ja01035a020
    日期:1969.3
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