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(Z)-N,N'-di(propan-2-yl)ethene-1,2-diamine

中文名称
——
中文别名
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英文名称
(Z)-N,N'-di(propan-2-yl)ethene-1,2-diamine
英文别名
——
(Z)-N,N'-di(propan-2-yl)ethene-1,2-diamine化学式
CAS
——
化学式
C8H18N2
mdl
——
分子量
142.24
InChiKey
QXCIXKNYHWHRDG-WAYWQWQTSA-N
BEILSTEIN
——
EINECS
——
  • 物化性质
  • 计算性质
  • ADMET
  • 安全信息
  • SDS
  • 制备方法与用途
  • 上下游信息
  • 反应信息
  • 文献信息
  • 表征谱图
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  • 相关功能分类
  • 相关结构分类

计算性质

  • 辛醇/水分配系数(LogP):
    2.1
  • 重原子数:
    10
  • 可旋转键数:
    4
  • 环数:
    0.0
  • sp3杂化的碳原子比例:
    0.75
  • 拓扑面积:
    24.1
  • 氢给体数:
    2
  • 氢受体数:
    2

文献信息

  • [EN] A DIAMINE COMPOUND OR ITS SALT, PREPARING METHOD OF THE SAME, AND USES OF THE SAME<br/>[FR] COMPOSÉ DIAMINE OU SON SEL, PROCÉDÉ POUR LE PRÉPARER, ET SES UTILISATIONS
    申请人:UP CHEMICAL CO LTD
    公开号:WO2012176989A1
    公开(公告)日:2012-12-27
    The present disclosure relates to a diamine compound or its salt having utility for preparing an organometallic compound suitable for vapor phase deposition processes such as a chemical vapor deposition (CVD) method or an atomic layer deposition (ALD) method.
    本公开涉及一种二胺化合物或其盐,其用于制备适用于气相沉积工艺的有机属化合物,如化学气相沉积(CVD)方法或原子层沉积(ALD)方法。
  • HYDROSILANE DERIVATIVE, METHOD FOR PRODUCING SAME, AND METHOD FOR PRODUCING SILICON-CONTAINING THIN FILM
    申请人:Tada Ken-ichi
    公开号:US20130123528A1
    公开(公告)日:2013-05-16
    This invention aims at providing a material from which a silicon-containing thin film can be efficiently produced at a low temperature of 500° C. or less without using plasma or the like. The invention relates to produce a hydrosilane derivative represented by the general formula (1′) by reacting a chlorosilane derivative ( 3 ) with a compound M 2 Z ( 4 ) and produce the silicon-containing thin film by using the hydrosilane derivative as the material. In the formulae, R 1 , R 2 are defined in the specification.
    这项发明旨在提供一种材料,可以在低于500℃的温度下,不使用等离子体或类似物质,高效地制造含薄膜。该发明涉及通过将硅烷生物(3)与化合物M2Z(4)反应,制备一种由一般式(1')表示的氢硅烷生物,并使用该氢硅烷生物作为材料制备含薄膜。在公式中,R1、R2在说明书中有定义。
  • FILM-FORMING MATERIAL, GROUP IV METAL OXIDE FILM AND VINYLENEDIAMIDE COMPLEX
    申请人:Kinoshita Tomoyuki
    公开号:US20140227456A1
    公开(公告)日:2014-08-14
    An object of the present invention is to provide a method for producing a Group IV metal oxide film useful as a semiconductor element or an optical element at a low temperature. The present invention relates to a method for producing a Group IV metal oxide film, comprising coating a surface of a substrate with a film-forming material dissolved in an organic solvent, and subjecting the substrate to a heat treatment, an ultraviolet irradiation treatment, or both of these treatments, wherein a film-forming material obtained by reacting a vinylenediamide complex having a specific structure with an oxidizing agent such as oxygen gas, air, ozone, water and hydrogen peroxide is used as the film-forming material.
  • US9120825B2
    申请人:——
    公开号:US9120825B2
    公开(公告)日:2015-09-01
  • US9371452B2
    申请人:——
    公开号:US9371452B2
    公开(公告)日:2016-06-21
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