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6,7,8-trihydroxy-[1]naphthoic acid | 672919-94-7

中文名称
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中文别名
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英文名称
6,7,8-trihydroxy-[1]naphthoic acid
英文别名
6,7,8-Trihydroxy-[1]naphthoesaeure;Purpurogallon;6.7.8-Trioxy-naphthalin-carbonsaeure-(1);6,7,8-Trihydroxynaphthalene-1-carboxylic acid;6,7,8-trihydroxynaphthalene-1-carboxylic acid
6,7,8-trihydroxy-[1]naphthoic acid化学式
CAS
672919-94-7
化学式
C11H8O5
mdl
——
分子量
220.182
InChiKey
UQUBCAGZMLEVSC-UHFFFAOYSA-N
BEILSTEIN
——
EINECS
——
  • 物化性质
  • 计算性质
  • ADMET
  • 安全信息
  • SDS
  • 制备方法与用途
  • 上下游信息
  • 反应信息
  • 文献信息
  • 表征谱图
  • 同类化合物
  • 相关功能分类
  • 相关结构分类

计算性质

  • 辛醇/水分配系数(LogP):
    1.6
  • 重原子数:
    16
  • 可旋转键数:
    1
  • 环数:
    2.0
  • sp3杂化的碳原子比例:
    0.0
  • 拓扑面积:
    98
  • 氢给体数:
    4
  • 氢受体数:
    5

上下游信息

  • 上游原料
    中文名称 英文名称 CAS号 化学式 分子量
  • 下游产品
    中文名称 英文名称 CAS号 化学式 分子量

反应信息

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文献信息

  • RESIST COMPOSITION, METHOD OF FORMING RESIST PATTERN, AND COMPOUND
    申请人:TOKYO OHKA KOGYO CO., LTD.
    公开号:US20200183273A1
    公开(公告)日:2020-06-11
    A resist composition including a base material component (A) whose solubility in a developing solution is changed due to the action of an acid, and a compound (D0) formed of an anion moiety and a cation moiety which is represented by Formula (d0), in which the cation moiety of the compound (D0) has a Log P value of less than 7.7. In the formula, M m+ represents an m-valent organic cation, R d0 represents a substituent, p represents an integer of 0 to 3, q represents an integer of 0 to 3, n represents an integer of 2 or greater, and a relationship of “n+p≤(q×2)+5” is satisfied.
    一种抗蚀组合物,包括一种基材料组分(A),由于酸的作用而在显影液中溶解性发生改变,以及由阴离子基团和由公式(d0)表示的阳离子基团组成的化合物(D0)。其中,化合物(D0)的阳离子基团的Log P值小于7.7。在公式中,Mm+表示m价有机阳离子,Rd0表示取代基,p表示0到3之间的整数,q表示0到3之间的整数,n表示大于等于2的整数,并且满足“n+p≤(q×2)+5”的关系。
  • Perkin,A. G., Journal of the Chemical Society, 1912, vol. 101, p. 804
    作者:Perkin,A. G.
    DOI:——
    日期:——
  • Perkin, Journal of the Chemical Society, 1912, vol. 101, p. 806
    作者:Perkin
    DOI:——
    日期:——
  • Perkin; Steven, Journal of the Chemical Society, 1903, vol. 83, p. 198
    作者:Perkin、Steven
    DOI:——
    日期:——
  • RESIST COMPOSITION AND METHOD OF FORMING RESIST PATTERN
    申请人:TOKYO OHKA KOGYO CO., LTD.
    公开号:US20220179313A1
    公开(公告)日:2022-06-09
    A resist composition that contains a resin component having a constitutional unit represented by General Formula (a0-1) and contains a photodecomposable base in which an acid dissociation constant of a conjugate acid is 4.0 or less, wherein R 01 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms; Ya 01 represents a single bond or a divalent linking group; Ra 01 represents a hydrocarbon group; Ya 02 represents a single bond or a divalent linking group; Ra 02 represents a hydrogen atom, a hydroxy group, or a hydrocarbon group; Ar represents a benzene ring or a naphthalene ring; Ra 01 and Ra 02 may be bonded to each other to form a ring; n01 represents an integer in a range of 1 to 6
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