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1,3,3a,4,5,6,6a,7,8,9,9a,9b-Dodecahydrobenzo[de]quinolin-2-one

中文名称
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中文别名
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英文名称
1,3,3a,4,5,6,6a,7,8,9,9a,9b-Dodecahydrobenzo[de]quinolin-2-one
英文别名
1,3,3a,4,5,6,6a,7,8,9,9a,9b-dodecahydrobenzo[de]quinolin-2-one
1,3,3a,4,5,6,6a,7,8,9,9a,9b-Dodecahydrobenzo[de]quinolin-2-one化学式
CAS
——
化学式
C12H19NO
mdl
——
分子量
193.28
InChiKey
UWZYTWGVEZWNTJ-UHFFFAOYSA-N
BEILSTEIN
——
EINECS
——
  • 物化性质
  • 计算性质
  • ADMET
  • 安全信息
  • SDS
  • 制备方法与用途
  • 上下游信息
  • 反应信息
  • 文献信息
  • 表征谱图
  • 同类化合物
  • 相关功能分类
  • 相关结构分类

计算性质

  • 辛醇/水分配系数(LogP):
    2.5
  • 重原子数:
    14
  • 可旋转键数:
    0
  • 环数:
    3.0
  • sp3杂化的碳原子比例:
    0.92
  • 拓扑面积:
    29.1
  • 氢给体数:
    1
  • 氢受体数:
    1

文献信息

  • PATTERN FORMING METHOD, ACTINIC RAY-SENSITIVE OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, RESIST FILM, MANUFACTURING METHOD OF ELECTRONIC DEVICE AND ELECTRONIC DEVICE
    申请人:FUJIFILM Corporation
    公开号:US20140141360A1
    公开(公告)日:2014-05-22
    A pattern forming method, includes: (i) a step of forming a film from an actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition containing (P) a resin having (a1) a repeating unit represented by the following formula (I) or (II) as defined in the specification in an amount of 20 mol % or more based on all repeating units in the resin (P) and (B) a compound capable of generating an acid upon irradiation with an actinic ray or radiation; (ii) a step of exposing the film, so as to form an exposed film; and (iii) a step of developing the exposed film by using a developer containing an organic solvent to form a negative pattern.
  • US9423689B2
    申请人:——
    公开号:US9423689B2
    公开(公告)日:2016-08-23
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