2-Methyl-3-<4-methoxy-phenyl>-valeriansaeure | 1616-71-3

• 分子结构分类: 有机化合物 - 苯丙烷和聚酮 - 苯丙酸
• 英文名称: 2-Methyl-3-<4-methoxy-phenyl>-valeriansaeure
• 英文别名: 3-(4-methoxy-phenyl)-2-methyl-valeric acid；3-(4-Methoxy-phenyl)-2-methyl-valeriansaeure；3-(4-Methoxyphenyl)-2-methylpentanoic acid；3-(4-methoxyphenyl)-2-methylpentanoic acid
• CAS: 1616-71-3
• 化学式: C₁₃H₁₈O₃
• 分子量: 222.284
• InChiKey: DYDTYXSNTUEASC-UHFFFAOYSA-N

计算性质

• 辛醇/水分配系数(LogP)：
  3.1
• 重原子数：
  16
• 可旋转键数：
  5
• 环数：
  1.0
• sp3杂化的碳原子比例：
  0.46
• 拓扑面积：
  46.5
• 氢给体数：
  1
• 氢受体数：
  3

反应信息

• 作为产物：
  描述：

  2-溴丙酸乙酯 、 对甲氧基苯丙酮 生成 2-Methyl-3-<4-methoxy-phenyl>-valeriansaeure
  参考文献：
  名称：

  Diffusional Creep: Stresses and Strain Rates in Thin Films and Multilayers

  摘要：

  本文讨论了与薄膜和多层箔有关的蠕变变形。我们首先回顾了用于研究薄膜几何形态下蠕变变形的实验技术，列出了每种技术的优缺点；然后我们讨论了使用变形机制图来记录和理解观察到的蠕变行为。我们包括了一些关于微观结构稳定性、零蠕变应力和瞬态蠕变应变对应力-应变率关系的影响的警告性言论，最后回顾了目前关于薄膜蠕变变形的知识状态。这既包括在基板上加热的薄膜，也包括作为自由箔进行测试的多层膜。

  DOI：

  10.1557/mrs2002.18

文献信息

• Dimeric Propenyl Phenol Ethers. XIII. on Metanethole and its Teralin Isomers
  作者：Alexander Muller、Miomir Meszaros、Magda Lempert-Sreter、Istvan Szara

  DOI：10.1021/jo50001a001

  日期：1951.7
• Diffusional Creep: Stresses and Strain Rates in Thin Films and Multilayers
  作者：D. Josell、T. P. Weihs、H. Gao

  DOI：10.1557/mrs2002.18

  日期：2002.1

  In this article, we discuss creep deformation as it relates to thin films and multilayer foils. We begin by reviewing experimental techniques for studying creep deformation in thin-film geometries, listing the pros and cons of each; then we discuss the use of deformation-mechanism maps for recording and understanding observed creep behavior. We include a number of cautionary remarks regarding the impact of microstructural stability, zero-creep stresses, and transient-creep strains on stress–strain rate relationships, and we finish by reviewing the current state of knowledge for creep deformation in thin films. This includes both thin films that are heated on substrates as well as multilayer films that are tested as freestanding foils.

  本文讨论了与薄膜和多层箔有关的蠕变变形。我们首先回顾了用于研究薄膜几何形态下蠕变变形的实验技术，列出了每种技术的优缺点；然后我们讨论了使用变形机制图来记录和理解观察到的蠕变行为。我们包括了一些关于微观结构稳定性、零蠕变应力和瞬态蠕变应变对应力-应变率关系的影响的警告性言论，最后回顾了目前关于薄膜蠕变变形的知识状态。这既包括在基板上加热的薄膜，也包括作为自由箔进行测试的多层膜。