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bis(isopropylxanthato)cadmium(II)

中文名称
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中文别名
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英文名称
bis(isopropylxanthato)cadmium(II)
英文别名
cadmium bis(isopropylxanthate);cadmium (o-isopropylxanthate)2
bis(isopropylxanthato)cadmium(II)化学式
CAS
——
化学式
2C4H7OS2*Cd
mdl
——
分子量
382.872
InChiKey
ADTLZNNZVYPOJR-UHFFFAOYSA-M
BEILSTEIN
——
EINECS
——
  • 物化性质
  • 计算性质
  • ADMET
  • 安全信息
  • SDS
  • 制备方法与用途
  • 上下游信息
  • 反应信息
  • 文献信息
  • 表征谱图
  • 同类化合物
  • 相关功能分类
  • 相关结构分类

计算性质

  • 辛醇/水分配系数(LogP):
    1.24
  • 重原子数:
    8.0
  • 可旋转键数:
    1.0
  • 环数:
    0.0
  • sp3杂化的碳原子比例:
    0.75
  • 拓扑面积:
    9.23
  • 氢给体数:
    0.0
  • 氢受体数:
    3.0

反应信息

  • 作为反应物:
    参考文献:
    名称:
    Abrahams, Brendan F.; Corbett, Madeline; Dakternieks, Dainis, Australian Journal of Chemistry, 1986, vol. 39, p. 1993 - 2002
    摘要:
    DOI:
  • 作为产物:
    描述:
    potassium isopropylxanthate 、 cadmium(II) chloride 以 为溶剂, 以80%的产率得到bis(isopropylxanthato)cadmium(II)
    参考文献:
    名称:
    来自单源前驱体的纳米级 ZnS 和 CdS 薄膜的 CVD
    摘要:
    iPrXan)2 @M 5 Zn,Cd; Oi PrXan 5 S2COCH(CH3) 2] 作为单一来源的前体。通过热分析和质谱法研究了 M(Oi PrXan)2 化合物的热分解和碎裂。通过几种分析技术,对硫化物薄膜的组成、纳米结构和形态进行了彻底的表征。通过 X 射线光电子能谱、X 射线激发俄歇电子能谱和二次离子质谱法研究了表面和深层化学成分。分别通过扫描入射 X 射线衍射和原子力显微镜研究薄膜纳米结构和表面形貌作为合成条件的函数。还研究了光吸收特性。获得了平均微晶尺寸低于 25 nm 的纳米相和无污染物 ZnS 和 CdS 薄膜。这些层主要包含六边形~a!硫化物相并显示出光滑和规则的表面形态。在目前的工作中,分析和讨论了合成条件对薄膜特性的影响。
    DOI:
    10.1149/1.1739221
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文献信息

  • Glinskaya, L. A.; L'vov, P. E.; Klevtsova, R. F., Russian Journal of Inorganic Chemistry, 1990, vol. 35, p. 511 - 515
    作者:Glinskaya, L. A.、L'vov, P. E.、Klevtsova, R. F.、Larionov, S. V.
    DOI:——
    日期:——
  • Abrahams, Brendan F.; Corbett, Madeline; Dakternieks, Dainis, Australian Journal of Chemistry, 1986, vol. 39, p. 1993 - 2002
    作者:Abrahams, Brendan F.、Corbett, Madeline、Dakternieks, Dainis、Gable, Robert W.、Hoskins, Bernard F.、et al.
    DOI:——
    日期:——
  • Abrahams, Brendan F.; Hoskins, Bernard F.; Winter, George, Australian Journal of Chemistry, <hi>1990</hi>, vol. 43, p. 1759 - 1766
    作者:Abrahams, Brendan F.、Hoskins, Bernard F.、Winter, George
    DOI:——
    日期:——
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