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hexakis(dimethylamino)disilane | 6415-17-4

中文名称
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中文别名
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英文名称
hexakis(dimethylamino)disilane
英文别名
Hexakis-(dimethylamino)-disilan;Hexakis(dimethylamino) disilane;N-[bis(dimethylamino)-[tris(dimethylamino)silyl]silyl]-N-methylmethanamine
hexakis(dimethylamino)disilane化学式
CAS
6415-17-4
化学式
C12H36N6Si2
mdl
——
分子量
320.629
InChiKey
FCFRXVHQYCYAOT-UHFFFAOYSA-N
BEILSTEIN
——
EINECS
——
  • 物化性质
  • 计算性质
  • ADMET
  • 安全信息
  • SDS
  • 制备方法与用途
  • 上下游信息
  • 反应信息
  • 文献信息
  • 表征谱图
  • 同类化合物
  • 相关功能分类
  • 相关结构分类

物化性质

  • 沸点:
    303.1±25.0 °C(Predicted)
  • 密度:
    0.938±0.06 g/cm3(Predicted)

计算性质

  • 辛醇/水分配系数(LogP):
    -0.69
  • 重原子数:
    20
  • 可旋转键数:
    7
  • 环数:
    0.0
  • sp3杂化的碳原子比例:
    1.0
  • 拓扑面积:
    19.4
  • 氢给体数:
    0
  • 氢受体数:
    6

上下游信息

  • 上游原料
    中文名称 英文名称 CAS号 化学式 分子量

反应信息

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文献信息

  • PENTAKIS(DIMETHYLAMINO) DISILANE PRECURSOR COMPRISING COMPOUND AND METHOD FOR THE PREPARATION THEREOF
    申请人:Dussarrat Christian
    公开号:US20100016620A1
    公开(公告)日:2010-01-21
    Pentakis(dimethylamino) disilane with general formula (1): Si2(NMe2)5Y, where Y is selected from the group comprising H, Cl or an amino group its preparation method and its use to manufacture gate dielectric films or etch-stop dielectric films of SiN or SiON.
    Pentakis(dimethylamino) disilane的一般式为(1): Si2(NMe2)5Y,其中Y选择自H、Cl或氨基组合中的一种。本发明涉及其制备方法及其用于制造SiN或SiON的栅介电膜或刻蚀停止介电膜。
  • Pentakis(dimethylamino) disilane precursor comprising compound and method for the preparation thereof
    申请人:L'Air Liquide Societe Anonyme pour l'Etude et l'Exploitation des Procedes Georges Claude
    公开号:US08153832B2
    公开(公告)日:2012-04-10
    Pentakis(dimethylamino) disilane with general formula (1): Si2(NMe2)5Y, where Y is selected from the group comprising H, Cl or an amino group its preparation method and its use to manufacture gate dielectric films or etch-stop dielectric films of SiN or SiON.
    Pentakis(dimethylamino) disilane的通式为(1):Si2(NMe2)5Y,其中Y选自包括H,Cl或氨基的组。该化合物的制备方法以及其用于制造SiN或SiON的栅介电膜或刻蚀停止介电膜。
  • METHOD FOR DEPOSITING SILICON NITRIDE FILMS AND/OR SILICON OXYNITRIDE FILMS BY CHEMICAL VAPOR DEPOSITION
    申请人:Dussarrat Christian
    公开号:US20100221428A1
    公开(公告)日:2010-09-02
    Pentakis(dimethylamino) disilane comprising compound is used along with a nitrogen containing gas and optionally an oxygen containing gas for SiN (and optionally SiON) film deposition by CVD.
    Pentakis(dimethylamino) disilane 包含化合物,与含氮气体和可选的含氧气体一起用于通过CVD沉积SiN(和可选的SiON)薄膜。
  • Method for depositing silicon nitride films and/or silicon oxynitride films by chemical vapor deposition
    申请人:Dussarrat Christian
    公开号:US08377511B2
    公开(公告)日:2013-02-19
    Disclosed are CVD deposition of SiN and SiON films using pentakis(dimethylamino)disilane compounds along with a nitrogen containing gas and optionally an oxygen containing gas.
    本发明涉及使用五(二甲基氨基)二硅烷化合物,以及含氮气体和可选的含氧气体进行SiN和SiON薄膜的CVD沉积。
  • USRE045839E1
    申请人:——
    公开号:——
    公开(公告)日:——
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