作者:I.Yu. Zavaliy、I.V. Koval'chuck、R.V. Denys、R. Černý、V. Pecharsky、P. Zavalij
DOI:10.1016/j.jallcom.2024.173531
日期:2024.4
The parent Hf(Zr)4Fe2Ox compounds and their saturated deuterides have been synthesized. The crystal structures of Hf2FeD4, Hf4Fe2O0.3D6.34, Hf4Fe2O0.6D3.5, Zr4Fe2O0.25D8.5 and Zr4Fe2O0.5D7.5 using both X-ray and neutron powder diffraction have been determined. Experimental data together with the analysis of the crystal structure of the deuterides indicate that oxygen content influences substantially
合成了母体Hf(Zr) 4 Fe 2 O x化合物及其饱和氘化物。使用 X 射线和 X 射线分析了 Hf 2 FeD 4、Hf 4 Fe 2 O 0.3 D 6.34、Hf 4 Fe 2 O 0.6 D 3.5、Zr 4 Fe 2 O 0.25 D 8.5和 Zr 4 Fe 2 O 0.5 D 7.5的晶体结构。中子粉末衍射已经测定。实验数据以及氘化物晶体结构的分析表明氧含量对H(D)存储能力有显着影响。发现并分析了大多数研究的氘化物在一定浓度的氧和氢下出现的金属基体局部无序的有趣现象。这种无序与Zr 4 Fe 2 O 0.25 D 9.9在低温下观察到的57 Fe超精细数据非常一致。