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二羰基双(N,N-二叔丁基乙酰胺基)钌(II) | 949113-49-9

中文名称
二羰基双(N,N-二叔丁基乙酰胺基)钌(II)
中文别名
——
英文名称
bis(N,N'-di-tert-butylacetamidinato)ruthenium(II) dicarbonyl
英文别名
Bis(N,N-di-t-butylacetamidinato)ruthenium(II) dicarbonyl, 98% (99.99%-Ru) PURATREM;tert-butyl-(N-tert-butyl-C-methylcarbonimidoyl)azanide;carbon monoxide;ruthenium(2+)
二羰基双(N,N-二叔丁基乙酰胺基)钌(II)化学式
CAS
949113-49-9
化学式
C22H42N4O2Ru
mdl
——
分子量
495.671
InChiKey
QOTPFYAVSNZFFL-UHFFFAOYSA-N
BEILSTEIN
——
EINECS
——
  • 物化性质
  • 计算性质
  • ADMET
  • 安全信息
  • SDS
  • 制备方法与用途
  • 上下游信息
  • 反应信息
  • 文献信息
  • 表征谱图
  • 同类化合物
  • 相关功能分类
  • 相关结构分类

物化性质

  • 熔点:
    204°C

计算性质

  • 辛醇/水分配系数(LogP):
    6.67
  • 重原子数:
    29
  • 可旋转键数:
    4
  • 环数:
    0.0
  • sp3杂化的碳原子比例:
    0.82
  • 拓扑面积:
    28.7
  • 氢给体数:
    0
  • 氢受体数:
    6

反应信息

  • 作为反应物:
    描述:
    参考文献:
    名称:
    从脒酸盐前体气相沉积钌
    摘要:
    -二叔丁基乙酰氨基“钌!II”二羰基。CVD Þlms 在没有任何共反应物的情况下生长,而 ALD Þlms 使用氨作为共反应物。Þ lms 是具有高纯度的 Þne 晶粒多晶钌!!0.2% 的杂质“.R u 在氮化钨上生长为连续的、导电的、无针孔的 Þlms!WN”Þlms,即使对于 Þlms 薄至 2 nm。Þlms 的电阻率与相同厚度的纯溅射钌的电阻率相匹配。粗糙度为 ! Þlm 厚度的 2%。Þ lms 非常保形,在高深宽比的孔上具有 80% 的阶梯覆盖率!40:1"。该热处理工艺不使用任何氧化剂或等离子体作为第二试剂,从而避免损坏敏感基板。ALD 生长速率在300 iC的衬底温度下可以达到1.5??/cycle。© 2007 电化学学会。#DOI: 10.1 149/1.2789294 $ 版权所有。2007 年 5 月 9 日提交的稿件;修订稿于 2007 年 8 月 9 日收到。电子版于
    DOI:
    10.1149/1.2789294
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