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tetrakis(chlorosilyl)methane | 146295-67-2

中文名称
——
中文别名
——
英文名称
tetrakis(chlorosilyl)methane
英文别名
Chloro-[tris(chlorosilyl)methyl]silane;chloro-[tris(chlorosilyl)methyl]silane
tetrakis(chlorosilyl)methane化学式
CAS
146295-67-2
化学式
CH8Cl4Si4
mdl
——
分子量
274.229
InChiKey
IYLLVPZUGJHLKI-UHFFFAOYSA-N
BEILSTEIN
——
EINECS
——
  • 物化性质
  • 计算性质
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  • 相关结构分类

物化性质

  • 沸点:
    148.1±40.0 °C(Predicted)

计算性质

  • 辛醇/水分配系数(LogP):
    -0.69
  • 重原子数:
    9
  • 可旋转键数:
    4
  • 环数:
    0.0
  • sp3杂化的碳原子比例:
    1.0
  • 拓扑面积:
    0
  • 氢给体数:
    0
  • 氢受体数:
    0

反应信息

  • 作为反应物:
    描述:
    硅烷tetrakis(chlorosilyl)methane 以 gaseous matrix 为溶剂, 生成 silicon carbide
    参考文献:
    名称:
    高浓度 Si1−yCy 金刚石结构系统的合成策略
    摘要:
    前体化学和超高真空化学气相沉积已被用于在 (001) Si 衬底上沉积 Si1-yCy 薄膜。碳成分范围高达 20 at 的薄膜。% 是在 600–740 °C 的衬底温度下使用 SiH4 与 C(SiH3)4 或 C(SiH2Cl)4 的气体混合物沉积的,它们是包含 Si4C 四面体的无 (C–H) 前驱体。所得材料的组成通过卢瑟福背散射光谱法获得,包括碳共振分析。横截面透射电子显微镜和红外光谱用于提供微观结构和键合信息。拉曼光谱表明,使用该协议获得的替代 C 浓度高于其他方法获得的浓度。
    DOI:
    10.1063/1.121294
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文献信息

  • Strategies for the synthesis of highly concentrated Si1−yCy diamond-structured systems
    作者:D. Chandrasekhar、J. McMurran、David J. Smith、J. Kouvetakis、J. D. Lorentzen、J. Menéndez
    DOI:10.1063/1.121294
    日期:1998.4.27
    Precursor chemistry and ultrahigh-vacuum chemical vapor deposition have been used to deposit Si1−yCy thin films on (001) Si substrates. Films with carbon compositions ranging up to 20 at. % were deposited at substrate temperatures of 600–740 °C using gas mixtures of SiH4 with C(SiH3)4 or C(SiH2Cl)4, which are (C–H)-free precursors incorporating Si4C tetrahedra. The composition of the resulting materials
    前体化学和超高真空化学气相沉积已被用于在 (001) Si 衬底上沉积 Si1-yCy 薄膜。碳成分范围高达 20 at 的薄膜。% 是在 600–740 °C 的衬底温度下使用 SiH4 与 C(SiH3)4 或 C(SiH2Cl)4 的气体混合物沉积的,它们是包含 Si4C 四面体的无 (C–H) 前驱体。所得材料的组成通过卢瑟福背散射光谱法获得,包括碳共振分析。横截面透射电子显微镜和红外光谱用于提供微观结构和键合信息。拉曼光谱表明,使用该协议获得的替代 C 浓度高于其他方法获得的浓度。
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