Strategies for the synthesis of highly concentrated Si1−yCy diamond-structured systems
作者:D. Chandrasekhar、J. McMurran、David J. Smith、J. Kouvetakis、J. D. Lorentzen、J. Menéndez
DOI:10.1063/1.121294
日期:1998.4.27
Precursor chemistry and ultrahigh-vacuum chemical vapor deposition have been used to deposit Si1−yCy thin films on (001) Si substrates. Films with carbon compositions ranging up to 20 at. % were deposited at substrate temperatures of 600–740 °C using gas mixtures of SiH4 with C(SiH3)4 or C(SiH2Cl)4, which are (C–H)-free precursors incorporating Si4C tetrahedra. The composition of the resulting materials
前体化学和超高真空化学气相沉积已被用于在 (001) Si 衬底上沉积 Si1-yCy 薄膜。碳成分范围高达 20 at 的薄膜。% 是在 600–740 °C 的衬底温度下使用 SiH4 与 C(SiH3)4 或 C(SiH2Cl)4 的气体混合物沉积的,它们是包含 Si4C 四面体的无 (C–H) 前驱体。所得材料的组成通过卢瑟福背散射光谱法获得,包括碳共振分析。横截面透射电子显微镜和红外光谱用于提供微观结构和键合信息。拉曼光谱表明,使用该协议获得的替代 C 浓度高于其他方法获得的浓度。