摘要:
通过液体注入金属有机化学气相沉积,LI-MOCVD,在 SiO x /Si(100) 衬底上生长厚度在 2 和 20 nm 之间的 HfO 2 薄膜。不同的单核前体([Hf(OPr i ) 2 (tbaoac) 2 ]、[Hf(NEt 2 ) 2 (guanid) 2 ] 和 [Hf(OBu t ) 2 (dmae) 2 ] 与不同的溶剂结合进行了测试. 分析了沉积薄膜的生长速率、表面形貌、晶体结构和晶体密度与沉积温度的关系。研究了沉积后退火对致密化和结晶的影响。结构特性与电性能的相关性讨论了具有 Pt 顶部电极的金属绝缘体半导体电容器,另外还讨论了选定样品的全硅化金属栅叠层。