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[W(S2C2Me2)(CO)4] | 15133-71-8

中文名称
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中文别名
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英文名称
[W(S2C2Me2)(CO)4]
英文别名
[WII(1,2-dimethylethene-1,2-dithiolate)(CO)4];(Z)-but-2-ene-2,3-dithiolate;carbon monoxide;tungsten(2+)
[W(S<sub>2</sub>C<sub>2</sub>Me<sub>2</sub>)(CO)<sub>4</sub>]化学式
CAS
15133-71-8
化学式
C8H6O4S2W
mdl
——
分子量
414.115
InChiKey
CAYKNOLOUYWXCD-GLUPTGNJSA-L
BEILSTEIN
——
EINECS
——
  • 物化性质
  • 计算性质
  • ADMET
  • 安全信息
  • SDS
  • 制备方法与用途
  • 上下游信息
  • 反应信息
  • 文献信息
  • 表征谱图
  • 同类化合物
  • 相关功能分类
  • 相关结构分类

计算性质

  • 辛醇/水分配系数(LogP):
    1.18
  • 重原子数:
    15
  • 可旋转键数:
    0
  • 环数:
    0.0
  • sp3杂化的碳原子比例:
    0.25
  • 拓扑面积:
    6
  • 氢给体数:
    0
  • 氢受体数:
    6

反应信息

  • 作为反应物:
    参考文献:
    名称:
    辅助配体对双(二硫代钨酸)钨络合物中二硫代氧化还原无毒度的影响
    摘要:
    [W(S 2 C 2 Me 2)2 L 1 L 2 ] n类型的一组扩展化合物(n = 0:L 1 = L 2 = CO,1 ; L 1 = L 2 = CN t Bu,2,L 1 = CO,L 2 =卡宾,3,L 1 = CO,L 2 =膦,4,L 1 = L 2 =膦,5。ñ = 2-:L1 = L 2 = CN –,[ 6 ] 2–)已经合成并表征。尽管采用了等电子形式,该化合物组仍显示出二硫代烯配体氧化还原水平的级配,如配位体内键长υCCchelate和硫K边缘X射线吸收光谱(XAS)中的上升沿能量所示。终端机系列成员1和[ 6 ] 2–之间的差异与通过与基于二硫辛烯的MO的全电子转移相关的均一的二硫辛烯络合物中观察到的差异相当。控制这些差异的关键特征是COπ*轨道的有利能量,该轨道的位置适合与钨d轨道重叠,并通过π回键对金属和二硫代烯烃配体产生氧化作用。CN - π*轨道的能量太
    DOI:
    10.1021/ic4009174
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文献信息

  • Aerosol-assisted chemical vapor deposition of 2H-WS2 from single-source tungsten dithiolene precursors
    作者:Ian M. Germaine、Nathaniel E. Richey、Mary B. Huttel、Lisa McElwee-White
    DOI:10.1039/d3tc03755j
    日期:——
    ligands. Aerosol-assisted chemical vapor deposition onto silicon substrates was performed using all three complexes, yielding 2H-WS2 thin films as characterized by Raman spectroscopy and GI-XRD. Film morphology and elemental composition of the films were determined using SEM, EDS, and XPS. Four-point probe measurements afforded a film resistivity of 8.37 Ωcm for a sample deposited from W(dmdt)3 in toluene
    评估了羰基二甲基二硫烯(dmdt)配合物W(CO) 4 (dmdt)、W(CO) 2 (dmdt) 2和W(dmdt) 3作为用于化学气相沉积WS 2的潜在单源前体。 TGA-MS、DIP-MS 和热解与 NMR 分析的结果与热分解途径一致,其中通过二配体的逆[3+2]环加成产生末端配体而损失 2-丁炔。使用所有三种配合物在基底上进行气溶胶辅助化学气相沉积,产生通过拉曼光谱和GI-XRD表征的2H-WS 2薄膜。使用 SEM、EDS 和 XPS 测定薄膜的薄膜形态和元素组成。四点探针测量表明,在 600 °C 下由 W(dmdt) 3在甲苯中沉积的样品的薄膜电阻率为 8.37 Ωcm。
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