[EN] SUBSTRATE MATERIAL FOR HANDLING AND ANALYSING SAMPLES<br/>[FR] MATERIAU DE SUBSTRAT POUR TRAITER ET ANALYSER DES ECHANTILLONS
申请人:KONINKL PHILIPS ELECTRONICS NV
公开号:WO2007023430A1
公开(公告)日:2007-03-01
[EN] The invention relates to a substrate material for analyzing one or more fluid samples for the presence, amount or identity of one or more analytes in the samples, whereby the substrate material is adapted in that way that a flow of the sample or parts thereof in and/or with the substrate material is influenced and/or caused by phase transitions, preferably temperature-inducible phase transitions, in selected areas of the substrate material.
[FR] L'invention porte sur un matériau de substrat utilisé dans l'analyse d'un ou plusieurs échantillons de fluide pour détecter la présence, la quantité ou l'identité d'un ou plusieurs analytes dans les échantillons, le matériau du substrat étant adapté de sorte que l'écoulement de l'échantillon ou des parties de celui-ci dans et/ou avec le matériau du substrat soit influencé et/ou provoqué par des transitions de phase, de préférence des transitions de phase pouvant être induites par la température, dans des zones sélectionnées du matériau du substrat.