with Zn ions is accompanied by an increase of the Ni–O bond ionicity and an increase of the W–O bond covalency. These changes are attributed to the charge redistribution among [NiO6] and [WO6] structural units. We show that a careful in-depth analysis of XPS data obtained with a laboratory-based X-ray photoelectron spectroscopy system can give chemically sensitive, qualitative information on the changes
通过X射线光电子能谱研究了微晶NiWO 4 -ZnWO 4固溶体中Ni、Zn和W的
化学状态。Ni 2p、Zn 2p 和 W 4f 光电子线和 Ni L 2 M 23 M 45、Zn L 3 M 45 M 45和 WN 4 N 67 N 7的记录光谱随着 Zn 浓度的增加,俄歇过渡线显示出明显的变化。将解析出的光电子和俄歇跃迁线的位置结合起来,为固溶体中的
金属离子构建所谓的
化学状态图(瓦格纳或俄歇参数图)。随着 Zn 浓度的增加,Ni 的俄歇参数增加,W 的俄歇参数减少,从而证明核电离的 Ni 和 W 离子周围的电子极化率分别降低和增加。同时,Zn-O 键的特性和 Zn 离子周围的局部结构没有改变。结论是,NiWO 4用Zn 离子稀释伴随着Ni-O 键离子性的增加和W-O 键共价键的增加。这些变化归因于 [NiO6 ]和[WO 6 ]结构单元。我们表明,对使用基于实验室的 X 射线光电子能谱系统获得的