11-benzylthioundecyl-1-phosphonic acid | 265099-05-6

• 分子结构分类: 有机化合物 - 有机酸及其衍生物 - 有机磷酸及其衍生物
• 英文名称: 11-benzylthioundecyl-1-phosphonic acid
• CAS: 265099-05-6
• 化学式: C₁₈H₃₁O₄PS
• 分子量: 374.481
• InChiKey: SIZZYPDLQXMDJY-UHFFFAOYSA-N

计算性质

• 辛醇/水分配系数(LogP)：
  5.54
• 重原子数：
  24.0
• 可旋转键数：
  15.0
• 环数：
  1.0
• sp3杂化的碳原子比例：
  0.67
• 拓扑面积：
  66.76
• 氢给体数：
  2.0
• 氢受体数：
  3.0

反应信息

• 作为反应物：
  描述：

  11-benzylthioundecyl-1-phosphonic acid 在 氨 、 sodium 作用下， 以 四氢呋喃 为溶剂， 以62%的产率得到11-硫基十一烷基二氢磷酸酯
  参考文献：
  名称：

  化学力显微镜测定自组装单分子膜中11-硫十一烷基-1-膦酸的电离态

  摘要：

  本文介绍了新型磷酸盐功能化的自组装单层（SAM）的制备和初步表征，以及通过化学力显微镜（CFM）测定水溶液中磷酸盐首基的表面电离态。所用的磷酸根基为PO（OH）2，一种二质子酸。还测量了AFM探针和平坦基材之间的粘附力，这两者均用相同的磷酸盐SAM进行了化学修饰，并随pH和离子强度的变化进行了测量。在低离子强度（10（-4）M）下，在pH 4.5和8.4的力滴定曲线中观察到两个峰（粘附力与pH值）。这两个峰分别比在水溶液中不含磷酸基团时获得的酸解离常数高2.4和1.2个pH单位。在高离子强度（10（-1）M）下，附着力降低了1个数量级，并且峰被取代了以前报道的酸力滴定的肩峰。根据JKR理论，发现高离子强度溶液中磷酸基团的表面pKa值分别为4.5和7.7。但是，鉴于离子强度对力滴定曲线的影响，我们讨论了JKR理论在粘附力和表面pKa的纳米测量中的适用性。

  DOI：

  10.1021/ac9913107
• 作为产物：
  描述：

  11-benzylthioundecanol 在 三乙胺 、 三氯氧磷 、 碳酸氢钠 作用下， 以 四氢呋喃 为溶剂， 反应 49.5h， 以65%的产率得到11-benzylthioundecyl-1-phosphonic acid
  参考文献：
  名称：

  化学力显微镜测定自组装单分子膜中11-硫十一烷基-1-膦酸的电离态

  摘要：

  本文介绍了新型磷酸盐功能化的自组装单层（SAM）的制备和初步表征，以及通过化学力显微镜（CFM）测定水溶液中磷酸盐首基的表面电离态。所用的磷酸根基为PO（OH）2，一种二质子酸。还测量了AFM探针和平坦基材之间的粘附力，这两者均用相同的磷酸盐SAM进行了化学修饰，并随pH和离子强度的变化进行了测量。在低离子强度（10（-4）M）下，在pH 4.5和8.4的力滴定曲线中观察到两个峰（粘附力与pH值）。这两个峰分别比在水溶液中不含磷酸基团时获得的酸解离常数高2.4和1.2个pH单位。在高离子强度（10（-1）M）下，附着力降低了1个数量级，并且峰被取代了以前报道的酸力滴定的肩峰。根据JKR理论，发现高离子强度溶液中磷酸基团的表面pKa值分别为4.5和7.7。但是，鉴于离子强度对力滴定曲线的影响，我们讨论了JKR理论在粘附力和表面pKa的纳米测量中的适用性。

  DOI：

  10.1021/ac9913107