摘要 在电沉积中,基材除了为电沉积提供机械支撑外,还显着影响薄膜的结构和形态特性。已经描述了 EuTe 薄膜在不同基材上的电沉积和表征,例如不锈钢 (SS)、
钛 (Ti)、
铜 (Cu)、掺
氟氧化
锡 (F:SnO 2 ) 覆盖的
玻璃。沉积电位已从极化曲线估计。提出了形成 EuTe 电沉积物的反应机制。研究了沉积电位、电流密度和沉积时间等制备参数。这些薄膜已通过 X 射线衍射、扫描电子显微镜 (
SEM)、原子力显微镜 (A
FM) 和 X 射线能量色散分析 (E
DAX) 技术进行表征。电沉积的 EuTe 薄膜在所有基板上都是多晶的,具有相同的立方晶体结构。
SEM 研究表明,所研究的基材的表面形态不同。然而,在
SEM显微照片中没有观察到裂纹。A
FM 图像显示大的球形晶粒支持样品的多晶性质。E
DAX 分析表明 EuTe 薄膜接近
化学计量,略富含
碲。