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pentatantalum trisilicide

中文名称
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中文别名
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英文名称
pentatantalum trisilicide
英文别名
silane;tantalum
pentatantalum trisilicide化学式
CAS
——
化学式
Si3Ta5
mdl
——
分子量
988.996
InChiKey
ZGLMGGIVUZTXMK-UHFFFAOYSA-N
BEILSTEIN
——
EINECS
——
  • 物化性质
  • 计算性质
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  • SDS
  • 制备方法与用途
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计算性质

  • 辛醇/水分配系数(LogP):
    -4.37
  • 重原子数:
    8.0
  • 可旋转键数:
    0.0
  • 环数:
    0.0
  • sp3杂化的碳原子比例:
    0.0
  • 拓扑面积:
    0.0
  • 氢给体数:
    0.0
  • 氢受体数:
    0.0

反应信息

  • 作为反应物:
    描述:
    pentatantalum trisilicide 生成 tantalum silicide 、 硅烷
    参考文献:
    名称:
    The Dissociation Pressures of the Tantalum Silicides1,2
    摘要:
    DOI:
    10.1021/ja01560a007
  • 作为产物:
    描述:
    tantalum disilicide 在 air 作用下, 生成 pentatantalum trisilicide
    参考文献:
    名称:
    Ivanov, V. E.; Nechiporenko, E. P.; Krivoruchko, V. M., Fizika Metallov i Metallovedenie, 1964, vol. 17, # 6, p. 62 - 65
    摘要:
    DOI:
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文献信息

  • High Frequency Induction Heated Synthesis and Consolidation of Nanostructured TaSi<SUB>2</SUB>-WSi<SUB>2</SUB> Composite
    作者:In-Jin Shon、Hyun-Su Kang
    DOI:10.1166/jnn.2015.10422
    日期:2015.7.1
    A dense nanostructured TaSi2-WSi2 composite was simultaneously synthesized and sintered by the high frequency induction heating method within 2 minutes from mechanically activated powder of Ta, W and Si. A highly-dense TaSi2-WSi2 composite was produced under simultaneous application of a 80 MPa pressure and the induced current. The mechanical properties and microstructure were investigated.
    通过高频感应加热法,在2分钟内同时合成并烧结了由Ta、W和Si的机械活化粉末制成的致密纳米结构TaSi2-WSi2复合材料。在同时施加80MPa压力和感应电流的作用下,制备出了高致密TaSi2-WSi2复合材料。对材料的力学性能和微观结构进行了研究。
  • Structure and physical properties of Cr5B3-type Ta5Si3 and Ta5Ge3
    作者:Fang Yuan、Scott Forbes、Krishna Kumar Ramachandran、Yurij Mozharivskyj
    DOI:10.1016/j.jallcom.2015.08.030
    日期:2015.11
    Abstract The Cr 5 B 3 -type Ta 5 Si 3 phase was prepared by arc-melting, while the Cr 5 B 3 -type Ta 5 Ge 3 one was synthesized through sintering at 1000 °C. X-ray single crystal diffraction was employed to elucidate their structure. According to the magnetization measurements, both Ta 5 Si 3 and Ta 5 Ge 3 are Pauli paramagnets, with Ta 5 Ge 3 showing a Currie-Weiss-like paramagnetic behavior at low
    摘要 采用电弧熔炼法制备Cr 5 B 3 型Ta 5 Si 3 相,1000℃烧结合成Cr 5 B 3 型Ta 5 Ge 3 相。X射线单晶衍射被用来阐明它们的结构。根据磁化强度测量结果,Ta 5 Si 3 和Ta 5 Ge 3 都是泡利顺磁体,其中Ta 5 Ge 3 在低温下表现出类似Currie-Weiss 的顺磁行为,这可能是由于顺磁杂质的存在。Ta 5 Si 3 和 Ta 5 Ge 3 在 2 到 300 K 之间都显示出非常低的电阻率。电阻率在 20 K 以下是恒定的,但在 20 K 以上显示出正温度系数。 使用 TB-LMTO-ASA 进行电子结构计算方法支持两相的属特性,并表明两相中的键合得到了优化。
  • Nanocrystallization of amorphous-Ta40Si14N46 diffusion barrier thin films
    作者:M. Bicker、C.-U. Pinnow、U. Geyer、S. Schneider、M. Seibt
    DOI:10.1063/1.1377626
    日期:2001.6.4
    The nanocrystallization process in thin amorphous-Ta40Si14N46 films, annealed in the range between 800 and 1000 °C for 1 h, is investigated by high-resolution transmission electron microscopy and high-angle annular dark-field and energy-dispersive x-ray analyses. At 800 °C clusters of about 2 nm in size indicate that compositional inhomogeneities have developed while the film has still remained structurally
    通过高分辨率透射电子显微镜和高角度环形暗场和能量色散 X 射线分析研究了在 800 到 1000°C 范围内退火 1 小时的薄非晶 Ta40Si14N46 薄膜的纳米结晶过程。在 800 °C 时,大小约为 2 nm 的团簇表明已形成成分不均匀性,而薄膜仍保持结构无定形。在 900 °C 下退火的样品含有高密度的 TaN 纳米颗粒,尺寸约为 2 nm,以及尺寸为 75-100 nm 且含量高的无定形结构。在 1000 °C 下退火后,观察到几乎完全的晶体结构,其中包含 4 nm 大小的立方 TaN 颗粒和 15 nm 大小的 Ta5Si3 晶粒。讨论了驱动这些结构变化的可能机制。
  • Performance of tantalum‐silicon‐nitride diffusion barriers between copper and silicon dioxide
    作者:M. S. Angyal、Y. Shacham‐Diamand、J. S. Reid、M.‐A. Nicolet
    DOI:10.1063/1.114750
    日期:1995.10.9
    Amorphous, 10‐nm‐thick tantalumsiliconnitride (TaSiN) layers were found to be effective diffusion barriers between copper and thermal silicon dioxide. The films were electrically evaluated using TaSiN/Cu/TaSiN‐oxide‐silicon capacitors and bias thermal stress (BTS) treatments; the capacitors were stressed at 300 °C with electric fields in excess of 1 MV/cm for up to 80 h. High frequency capacitance
    发现 10 nm 厚的非晶氮化物 (TaSiN) 层是和热二氧化硅之间的有效扩散屏障。使用 TaSiN/Cu/TaSiN-氧化物-电容器和偏置热应力 (BTS) 处理对薄膜进行电学评估;电容器在 300 °C 和超过 1 MV/cm 的电场下受压长达 80 小时。在室温下记录 BTS 处理前后的高频电容与电压特性。根据这些 (C-V) 曲线之间的比较,得出的结论是没有发生屏障失效。
  • Gmelin Handbuch der Anorganischen Chemie, Gmelin Handbook: Ta: MVol.B1, 15, page 250 - 265
    作者:
    DOI:——
    日期:——
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