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1,2-digermyldisilane | 895584-02-8

中文名称
——
中文别名
——
英文名称
1,2-digermyldisilane
英文别名
——
1,2-digermyldisilane化学式
CAS
895584-02-8
化学式
Ge2H10Si2
mdl
——
分子量
211.43
InChiKey
XYPKQDOXRPLROZ-UHFFFAOYSA-N
BEILSTEIN
——
EINECS
——
  • 物化性质
  • 计算性质
  • ADMET
  • 安全信息
  • SDS
  • 制备方法与用途
  • 上下游信息
  • 反应信息
  • 文献信息
  • 表征谱图
  • 同类化合物
  • 相关功能分类
  • 相关结构分类

计算性质

  • 辛醇/水分配系数(LogP):
    -4.2
  • 重原子数:
    4.0
  • 可旋转键数:
    1.0
  • 环数:
    0.0
  • sp3杂化的碳原子比例:
    0.0
  • 拓扑面积:
    0.0
  • 氢给体数:
    0.0
  • 氢受体数:
    0.0

反应信息

  • 作为反应物:
    描述:
    参考文献:
    名称:
    类丁烷硅锗氢化物的合成:为富锗半导体的 CVD 提供前驱体
    摘要:
    类丁烷 (GeH(3))(2)(SiH(2))(2) (1)、(GeH(3))(2)SiH(SiH(3)) (2) 和 (2) 的合成GeH(3))(2)(SiH(2)GeH(2)) (3) Si-Ge 氢化物在低温合成富锗 Si(1-x)Ge(x) 光电合金中的应用证明了。通过 FTIR、多核 NMR、质谱、卢瑟福背散射和密度泛函理论 (DFT) 模拟研究了这些化合物的组成、振动、结构和热化学性质。分析表明线性 (GeH(3))(2)(SiH(2))(2) (1) 和 (GeH(3))(2)(SiH(2)GeH(2)) (3)化合物以经典的正常 (n) 和 gauche (g) 构象异构体的混合物形式存在,在 22 摄氏度时似乎不会相互转化。 样品中的构象比例是使用新的拟合程序确定的,它结合了计算出的分子光谱,通过改变个体构象异构体的全局强度、频率尺度和混合系数来重现观察到的分子光谱。然后利用
    DOI:
    10.1021/ja060428j
  • 作为产物:
    描述:
    、 potassium germyl 以 乙醚 为溶剂, 以26%的产率得到1,2-digermyldisilane
    参考文献:
    名称:
    类丁烷硅锗氢化物的合成:为富锗半导体的 CVD 提供前驱体
    摘要:
    类丁烷 (GeH(3))(2)(SiH(2))(2) (1)、(GeH(3))(2)SiH(SiH(3)) (2) 和 (2) 的合成GeH(3))(2)(SiH(2)GeH(2)) (3) Si-Ge 氢化物在低温合成富锗 Si(1-x)Ge(x) 光电合金中的应用证明了。通过 FTIR、多核 NMR、质谱、卢瑟福背散射和密度泛函理论 (DFT) 模拟研究了这些化合物的组成、振动、结构和热化学性质。分析表明线性 (GeH(3))(2)(SiH(2))(2) (1) 和 (GeH(3))(2)(SiH(2)GeH(2)) (3)化合物以经典的正常 (n) 和 gauche (g) 构象异构体的混合物形式存在,在 22 摄氏度时似乎不会相互转化。 样品中的构象比例是使用新的拟合程序确定的,它结合了计算出的分子光谱,通过改变个体构象异构体的全局强度、频率尺度和混合系数来重现观察到的分子光谱。然后利用
    DOI:
    10.1021/ja060428j
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文献信息

  • Highly strained metastable structures and selective area epitaxy of Ge-rich Ge1−xSix/Si(100) materials using nanoscale building blocks
    作者:Y.-Y. Fang、V.R. D’Costa、J. Tolle、J.B. Tice、C.D. Poweleit、J. Menéndez、J. Kouvetakis
    DOI:10.1016/j.ssc.2008.10.009
    日期:2009.1
    Low-temperature heteroepitaxy (330 degrees C-430 degrees C of Si0.5Ge0.5 and Si0.25Ge0.75 on Si(100) using single-source silyl-germanes [SiH3GeH3. HSi(GeH3)(3)] produces monocrystalline structures, smooth and continuous surface morphologies and low defect densities. The metastable compressive strain in these films is dramatically enhanced relative to alternative growth methods. At such low temperatures the material grows seamlessly, conformally, and selectively in the "source/drain" regions of prototypical transistors. These results suggest that films grown via silyl-germanes could have applications in optoelectronics and as stressors for mobility enhancement in Si devices. (C) 2008 Elsevier Ltd. All rights reserved.
  • Synthesis of Butane-Like SiGe Hydrides:  Enabling Precursors for CVD of Ge-Rich Semiconductors
    作者:Andrew V. G. Chizmeshya、Cole J. Ritter、Changwu Hu、Jesse B. Tice、John Tolle、Ronald A. Nieman、Ignatius S. T. Tsong、John Kouvetakis
    DOI:10.1021/ja060428j
    日期:2006.5.1
    by varying the global intensity, frequency scale, and admixture coefficients of the individual conformers. The (GeH(3))(2)(SiH(2))(2) (1) species was then utilized to fabricate Si(0.50)Ge(0.50) semiconductor alloys reflecting exactly the Si/Ge content of the precursor. Device quality layers were grown via gas source MBE directly on Si(100) at unprecedented low temperatures 350-450 degrees C and display
    类丁烷 (GeH(3))(2)(SiH(2))(2) (1)、(GeH(3))(2)SiH(SiH(3)) (2) 和 (2) 的合成GeH(3))(2)(SiH(2)GeH(2)) (3) Si-Ge 氢化物在低温合成富锗 Si(1-x)Ge(x) 光电合金中的应用证明了。通过 FTIR、多核 NMR、质谱、卢瑟福背散射和密度泛函理论 (DFT) 模拟研究了这些化合物的组成、振动、结构和热化学性质。分析表明线性 (GeH(3))(2)(SiH(2))(2) (1) 和 (GeH(3))(2)(SiH(2)GeH(2)) (3)化合物以经典的正常 (n) 和 gauche (g) 构象异构体的混合物形式存在,在 22 摄氏度时似乎不会相互转化。 样品中的构象比例是使用新的拟合程序确定的,它结合了计算出的分子光谱,通过改变个体构象异构体的全局强度、频率尺度和混合系数来重现观察到的分子光谱。然后利用
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